实验报告实验一集成门电路逻辑功能测试.docVIP

实验一 集成门电路逻辑功能测试 一、实验目的 1. 验证常用集成门电路的逻辑功能; 2. 熟悉各种门电路的逻辑符号; 3. 熟悉TTL集成电路的特点，使用规则和使用方法。 二、实验设备及器件 1. 数字电路实验箱 2. 万用表 3. 74LS00四2输入与非门 1片 74LS86四2输入异或门 1片 74LS11三3输入与门 1片 74LS32四2输入或门 1片 74LS04反相器 1片 实验原理 集成逻辑门电路是最简单，最基本的数字集成元件，目前已有种类齐全集成门电路。TTL集成电路由于工作速度高，输出幅度大，种类多，不宜损坏等特点而得到广泛使用，特别对学生进行实验论证，选用TTL电路较合适，因此这里使用了74LS系列的TTL成路，它的电源电压为5V+10%,逻辑高电平“1”时＞2.4V，低电平“0”时＜0.4V。实验使用的集成电路都采用的是双列直插式封装形式，其管脚的识别方法为：将集成块的正面（印有集成电路型号标记面）对着使用者，集成电路上的标识凹口左，左下角第一脚为1脚，按逆时针方向顺序排布其管脚。 实验内容 ㈠ 按表1—1要求用开关改变输入端A,B,C的状态，借助指示灯观测各相应输出端F的状态，当电平指示灯亮时记为1，灭时记为0，把测试结果填入表1—1中。 输入状态 输出状态 A B C Y 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 0 0 0 1 1 0 1 0 0 0 1 0 1 0 1 1 0 0 1 1 1 1 2. 利用Multisim画出以74LS32为测试器件的或门逻辑功能仿真图如下 按表1—2要求用开关改变输入端A,B的状态，借助指示灯观测各相应输出端F的状态，把测试结果填入表1—2中。 输入状态 输出状态 A B Y 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 1 3. 利用Multisim画出以74LS04为测试器件的非门逻辑功能仿真图如下 按表1—3要求用开关改变电平开关的状态，借助指示灯观测各相应输出端F的状态，把测试结果填入表1—3中。 表1—3 74LS04逻辑功能表 输入 输出状态（0|1） 0 1 0 0 ㈡ 按表1—4要求用开关改变输入端的状态，借助指示灯观测各相应输出端的状态，把测试结果填入表1—4中。 表1—4 74LS00逻辑功能表 输入状态 输出状态 UA UB Y 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 0 2.74LS86四二输入异或门管脚功能如下图所示，用其中一个门测试其逻辑功能。 按表1—5要求用开关改变输入端的状态，借助指示灯观测各相应输出端的状态，把测试结果填入表1—5中。 A B C 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 0 表1—5 74LS86逻辑功能表 五、实验总结 1.确保集成块完好，否则会耽搁实验进行，浪费时间。在这次实验中，刚开始由于没有检查集成块，而一直在检查电路，但实验箱上的灯始终不亮，换了集成块后，电路立马成功导通，耽搁了实验的进程。 2.实验前应检查集成块是否插反，一旦大意，必然造成损失，烧坏集成块。 3.实验时要将电源电压接入+5V，过低电压导致实验测度不准，过高电压会烧毁仪器。