电镜技术及超薄切片技术(研究生)解析.doc

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电镜技术 电镜室现有设备 1、H-7500型透射电镜,购于2004年,最大点分辨率为0.24nm,有效放大倍数达60万倍。 2、S-3000N型扫描电镜,购于2004年,有效放大倍数达30万倍。 3、辅助设备:Tome-Power XL超薄切片机,零界点干燥仪,离子溅射仪等。 电镜的发展历程: 1924年,法国Broglie提出了“电磁波与光一样,具有波动性“的假说,并计算出电磁波长为0.005nm. 1926年,德国科学家Busch发现了带电粒子在电场或 磁场中偏转聚焦的现象。 1928—1931年间,德国的Ruska成功研制了世界上第一台真正的电子显微镜,放大倍数为1200倍。 20世纪50年代初到60年代末期,电镜分辨本领得到大 幅度提高,达到1nm左右,到80年代的点分辨率已接近0.1nm,最新研制的超高压透射电镜(1000KV)的点分辨率可高达0.001nm。 电镜基本类型 一、透射式电子显微镜 二、扫描式电子显微镜 三、根据电子枪发射方式不同,可分为热阴极电子枪和场发射电子枪。 四、其他(冷冻或低温电子显微镜、高压或超高压电子显微镜、分析电镜、扫描隧道显微镜、激光扫描共聚焦显微镜、扫描光子显微镜、原子力显微镜、环境扫描电子显微镜等约几十种不同类型电镜) 主要内容 1、电镜的基本原理和结构简介2、电镜的样品制备(透射电镜和扫描电镜3、电镜的应用简介 光学显微镜与电子显微镜在工作原理上的比较: 光学显微镜是利用玻璃制作的透镜对光进行折射,将一物点发出不同角度的光线最终会聚成一个像点。 电子显微镜是利用电场或磁场(电磁透镜)折射高速电子束流,达到成像目的。 透射电子显微镜的原理和结构 光的衍射现象: 由于光具有波动性,当光线通过小孔或小孔光源经光学系统成象会产生衍射。其图案是:中央部分一个亮斑,在其周围有明暗交替的圆环。 显微镜的分辨本领:显微镜分辩本领是由其产生的衍射图中央亮斑半径 D(分辨能力)大小来决定的即 D= 当光的波长为 λ= 500nm = 0.5μm 介质折射率 (油) = 1.5 物体与物镜所形成夹角的半数 α90o 央亮斑的半径 D = 200nm = 0.2μm 1、人眼在明视距离250mm处能分辨0.2mm的两点。油镜最小能分辨0.2 μm的两点。 则油镜理论最大放大能力为: 0.2mm / 0.2 μm = 1000(倍) 2、假如一台电镜的点分辨率为0.1nm,则其理论放大倍数为:0.2mm / 0.1nm = 2x106 3、H-7500型透射电镜的点分辨率为0.24nm,则其理论放大倍数为:0.2mm / 0.24nm = 0.83x106。而其有效放大倍数为 0.6x106 瑞利准则:光线通过二个比较靠近的小孔时,这二个小孔的衍射图会重叠在一起。当一个衍射图的中央亮斑正好落在另一个衍射图的第一暗环中心时,这二个点刚可以分辩。这就是显微镜分辩本领的 瑞利准则。 什么是电磁透镜? 由于轴对称弯曲磁场对电子束有聚焦作用,因而可以得到电子光学像。我们称这种具有轴对称弯曲磁场装置构成的电子透镜为电磁透镜(electron magnetic lenses)。由于电磁透镜磁场非均匀分布,物、像点在磁场之外,电子在磁场中既受到轴向分量的作用,又受到径向分量的作用,使平行于轴进入磁场的电子束可获得聚焦。 电磁波长的计算 : 根据公式λ= (n m) 如 V = 50000 v, 则 λ = 0.005 nm= 0.000005μm 代入公式 D= 则 D=0.000002μm 电镜的像差和畸变 ①球差:电子束光源通过透镜受到偏转,通过样品,从物平面向下发射,形成物点孔径角。从物点发出的射线,到达下一级透镜又被聚集。如果透镜有缺陷或孔径角太大,则靠近光轴的射线和远离光轴的射线,受到电磁场的作用就会不同,这些射线在光轴上会聚的位置不同,结果远离光轴的射线就会在像面上形成一个最小模糊圈。此时可有图象中央凸起感。这是目前影响电镜分辨率的一个主要因素。 ②像散:由于透镜的磁场强度在纵向或横向上不同,以致纵向与横向上的射线聚焦于光轴的位置也有上有下,两者共同形成一个最小模糊像。 ③色差:由于电磁波长随加速电压而变化,当加速电压不稳定时,电子束波长就可变异,因而发生类似的像差。 ④畸变:由于离轴较远处的径向磁场的作用力强,使放大倍数随物点离轴的距离而变化,进而使图象发生改变而产生的。畸变常见的有枕形畸变、桶形畸变和S形畸变等, 反差 人的眼睛在区分物体时,主要根据物体不同部位或物体之间的光强度与波长的差别,这些

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