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一．填空题 1. X射线管主要由 阳极 、 阴极 、和 窗口 构成。 2. X射线透过物质时产生的物理效应有： 散射 、 光电效应 、 透射X射线 、和 热 。 3. 德拜照相法中的底片安装方法有： 正装 、 反装 和 偏装 三种。 4. X射线物相分析方法分： 定性 分析和 定量 分析两种；测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的 定量 分析方法。 5. 透射电子显微镜的分辨率主要受 衍射效应 和 像差 两因素影响。 6. 今天复型技术主要应用于 萃取复型 来揭取第二相微小颗粒进行分析。 7. 电子探针包括 波谱仪 和 能谱仪 成分分析仪器。 8. 扫描电子显微镜常用的信号是 二次电子 和 背散射电子。 9.X射线的本质是一种??电磁辐射，同时具有??波动?性和??粒子?性的特征。? 10.晶体点阵中的一个二维阵点平面在倒易点阵中表示为???一个倒易阵点??。 11.透射电镜中的电磁透镜从电子枪到荧光屏的排列顺序为：??聚光??镜、???? 物镜、???中间镜、投影?镜。? 12.内应力包括：????宏观应力??????，???微观应力?????，????超微观应力?。 13衍射产生的复杂衍射花样是高阶劳厄斑、超结构斑点、二次衍射、孪晶斑点和菊池花样。? 14?当X射线管电压低于临界电压仅可以产生?连续谱?X射线；当X射线管电压超过临界电压就可以产生?连续谱X射线、特征谱?X射线。 15.射线的短波限取决于???????管电压??????。 16线衍射仪测定宏观应力是根据它使衍射峰??发生位移??的原理进行的。 17.分子散射包括（拉曼散射）和（瑞利散射）。 18.X射线衍射方法（劳埃法）（旋转晶体法）（粉末法）（衍射仪法）。 19.特征X射线产生的根本原因是（原子内层电子的跃迁）。 20.衍射花样的基本要素（衍射线的峰位）（线形）（强度）。 21.透射电子显微镜的分辨率主要受（衍射效应）和（像差）两因素影响。 22.电子探针包括（能谱仪）和（波谱仪）成分分析仪器。 23.扫描电子显微镜常用的信号是（二次电子）和（背散射电子）。 24.人眼的分辨率本领大约为（0.2nm） 选择题 1. X射线衍射方法中最常用的方法是（ b ）。 A厄法；B末多晶法；C转晶体法。 2. 已知X光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（ b ）。 a．Co ；b. Ni ；c. Fe。 3. X射线物相定性分析方法中有三种索引，如果已知物质名时可以采用（ c ）。 a．哈氏无机数值索引 ；b. 芬克无机数值索引；c. 戴维无机字母索引。 4. 能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是（ b ）。 a．第二聚光镜光阑 ；b. 物镜光阑 ；c. 选区光阑。 5. 透射电子显微镜中可以消除的像差是（ b ）。 a．球差 ；b. 像散 ；c. 色差。 6. 可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是（ a ）。 a．高阶劳厄斑点 ；b. 超结构斑点；c. 二次衍射斑点。 7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是（ b ）。 a．背散射电子；b.俄歇电子 ；c. 特征X射线。 8. 中心暗场像的成像操作方法是（ c ）。 a．以物镜光栏套住透射斑；b．以物镜光栏套住衍射斑；c．将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。 9.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（??B?）? A.X射线透射学；B.X射线衍射学；C.X射线光谱学；D.其它? 10..?M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（??B?） ?A.?Kα；B.?Kβ；C.?Kγ；D.?Lα。?? 11.?当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（?B?）? A．?Cu；B.?Fe；C.?Ni；D.?Mo。?? 12.?当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（??A?） ?A.?短波限λ0；B.?激发限λk；C.?吸收限；D.?特征X射线?? 13.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（???D）??（多选题） ?A.?光电子；B.?二次荧光；C.?俄歇电子；D.?（A+C） 14.布拉格方程是晶体对X射线衍射的?.(B???） ?A．充分条件???B.?必要条件???C.?充要条件???D.?A、B、C都不对? 15.X射线测定宏观应力计算公式为=KM其中K为应力常数，它与????有关。（??A???）? A试样的力学性能??B.入射X射线波长?C.?所选择的反射晶面?? 16测Fe基材料最好作阳极靶。（???C???）? A．Cu???????????