成都电子第十研究所天奥校准检测实验室.docVIP

 中国合格评定国家认可委员会 认 可 证 书 附 件 (No. CNAS L0781) 名称: 中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室 地址：四川省成都市外西茶店子东街48号 签发日期：2010年08月04日 有效期至：2012年02月09日 附件1 认可的检测能力范围 序号 检测对象 项目/参数 领域 代码 检测标准（方法）名称及编号（含年号） 限制 范围 说明 序号 名称 TTL集成电路 1 输入钳位电压 0418. 07 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735－1996第2.1、2.2、2.5、2.11、2.12、2.13、2.21、2.23、2.24、2.25、2.26、2.27条 　 　 2 输出高电平 电压 　 　 3 输出低电平 电压 　 　 4 输入电流 　 　 5 输入高电平 电流 　 　 6 输入低电平 电流 　 　 7 输出短路电流 　 　 8 输出高阻态时高电平电流 　 　 9 输出高阻态时低电平电流 　 　 10 电源电流 　 　 1 TTL集成电路 11 输出高电平 电源电流 0418. 07 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735－1996第2.1、2.2、2.5、2.11、2.12、2.13、2.21、2.23、2.24、2.25、2.26、2.27条 　 　 12 输出低电平电源电流 　 　 2 CMOS集成电路 1 输入钳位电压 0418. 07 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741－2000第5.1、5.2、5.3、5.7、5.8、5.9、5.10、5.11、5.12、5.13、5.14、5.15、5.16条 　 　 2 输入高电平 电压 　 　 3 输入低电平 电压 　 　 4 输出高电平 电压 　 　 5 输出低电平 电压 　 　 6 输入高电平 电流 　 　 7 输入低电平 电流 　 　 8 输出高电平 电流 　 　 9 输出低电平 电流 　 　 10 输出高阻态时高电平电流 　 　 11 输出高阻态时低电平电流 　 　 12 电源电流 　 　 13 输出短路电流 　 　 3 运算(电压)放大器 1 输入失调电压 0418. 07 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T 10738-1996第2.1、2.3、2.5、2.6、2.7、2.8、2.11条 　 　 2 输入偏置电流 　 　 3 输入失调电流 　 　 4 开环电压增益 　 　 5 共模抑制比 　 　 6 电源电压抑制比 　 　 7 静态功耗 　 　 4 电压比较器 1 输入失调电压 0418. 07 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996第4.1、4.3、4.5、4.7、4.8、4.9、4.11、4.13、4.15条 　 　 2 输入偏置电流 　 　 3 输入失调电流 　 　 4 开环电压增益 　 　 5 共模抑制比 　 　 6 电源电压抑制比 　 　 7 输出电压 　 　 8 输出电流 　 　 9 静态功耗 　 　 5 时基电路 1 复位电压 0418. 07 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理GB/T14030-1992第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条 　 　 2 复位电流 　 　 3 触发电压 　 　 4 触发电流 　 　 5 控制电压 　 　 6 阈值电流 　 　 7 电源电流 　 　 6 电压调整器 1 基准电压 0418. 07 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996第4.1、4.2、4.7、4.10条 　 　 2 电压调整率 　 　 3 电流调整率 　 　 4 备用消耗电流 　 　 5 备用消耗电流变化 　 　 7 二极管 1 正向直流电压 0418. 03 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/