粉体工程与设备-第2讲讲解.ppt

粉体工程学 1.3 颗粒粒度测量 颗粒粒度测量 直接观察法 筛分法 沉降法 激光法 电传感法－库尔特计数器 吸附法 1.3.1 直接观察法－显微镜法 光学显微镜测量统计平均径（马丁直径dm、弗雷特直径df、投影直径dp ），是唯一可以测量单个颗粒的方法，是粒度测量的最基本的方法，也可标定其他方法。 测量样品极少，制样和取样要保证样品用充分的代表性和良好的分散性。 光学显微镜测量粒度的范围以0.3～200μm。 取样 扫描电子显微镜测量最小粒度为10nm 取样 透射显微镜测量粒度范围以1nm～5μm 取样 1.3.2 筛分法 定义：把固体颗粒置于具有一定大小孔径或缝隙的筛面上，通过筛孔的称为筛下料，被截留在筛面上的称为筛上料，这种分级方法成为筛分。 特点：是让粉体样品通过一系列不同筛孔的标准筛，n层筛子可把物料分离成n+1个粒级，分别称重，求得以质量百分数表示的粒度分布。适用于粒度在100mm~40 μm之间的粒度分布测量。 一、筛分工具 筛子分类: 非标准筛：手筛，粗粒物料，筛孔尺寸一般为150，120，100…1mm等，可自制。 标准筛：用来筛分6～0.038mm较细物料，是一套相邻筛间筛孔尺寸大小有一定比例，筛孔边长及筛丝直径均按有关标准制造的筛子。 筛序：按筛孔尺寸自大而小排序，各个筛子所处的层位次序称为筛序。 筛比：按筛序叠好的每两个相邻筛子的筛孔尺寸之比值。 套筛组