电子元器件失效分析技术及经典案例(李少平)资料.docVIP

电子元器件失效分析技术及经典案例 【时间地点】 2012年11月09-10日 深圳 | 2012年11月16-17日 苏州 【参加对象】 电子元器件、电路板或整机企业的设计工程师、质量工程师、工艺工程师、可靠性工程师、失效分析工程师等。 【费 用】 ￥2500元/人 （含两天中餐、指定教材、茶点） 【会务组织】 森涛培训网（）．广州三策企业管理咨询有限公司 【咨询电话】 02034071978（提前报名可享受更多优惠,欢迎来电咨询） 【值班手机】 【联 系 人】 庞先生 郭小姐 【在线 QQ 】 814500721 【网址链接】 《电子元器件失效分析技术及经典案例》(李少平) 电子产品在不断与失效作斗争中提高可靠性，失效分析是与产品失效作斗争的最有效的工具，通过对失效产品的失效分析，诊断失效产品的失效机理，以失效机理为引导，进一步分析诱发失效机理的应力，从而诊断引起产品失效的根本原因，最终，从产品失效的根本原因所涉及的因素（如产品的材料、结构、工艺的缺陷，或产品使用不合理）入手，采取有针对性的措施，彻底消灭产品失效或有效控制产品失效。 ● 课程概要: “电子元器件失效分析技术与经典案例”首先介绍电子产品（包括各种元器件、集成电路、组件等）失效分析的程序和方法，主要的失效分析设备及其应用技巧，以及失效分析中要注意