加速器质谱测.docVIP

分类号 密级 UDC 学 位 论 文 加速器质谱测量32Si的方法研究 龚 杰 指导教师姓名：何 明（研究员、博士、中国原子能科学研究院） 姜 山（副所长、研究员、硕士、中国原子能科学研究院） 申请学位级别 硕 士 专业名称 粒子与原子核物理 论文提交日期 2010年 月 日 论文答辩日期 2010年 月 日 学位授予单位和日期 中国原子能科学研究院 2010年7月 答辩委员会主席 评阅人 二 ○ 一 ○ 年 六 月中国原子能科学研究院硕士研究生 学 位 论 文 加速器质谱测量32Si的方法研究 龚 杰 指导老师： 何明 研究员 姜山 研究员 专 业： 粒子与原子核物理 研究方向： 加 速 器 质 谱 学 学位级别： 硕 士 二 ○ 一 ○ 年 六 月Study on the Measurement of Silicon-32 with Accelerator Mass Spectrometry By Gong Jie P.O.Box:275(50) Beijing 102413 Email: gongjie001@ Supervisor: Prof. He Ming Prof. Jiang Shan China Institute of Atomic Energy June 2010 摘 要 硅（Si）是一种类金属元素，在地壳中的含量仅次于氧，广泛存在于各种岩石、砂砾、尘土之中 10-14），因此大量的32Si样品难以获得；2.以前的32Si的测量多采用衰变计数法，该方法需要大量的样品，且测量灵敏度低，周期长，样品制备烦琐；3.目前32Si的半衰期值尚无公认的精确值，目前公布的32Si的半衰期存在较大偏差，这在很大程度上阻碍了32Si的应用。 加速器质谱分析技术（AMS: Accelerator Mass Spectrometry）具有样品用量少、测量时间快、测量灵敏度高等优点。利用AMS技术测量32Si可克服以上提到的应用限制因素：1.AMS测量灵敏度高，需要的样品量少，仅需SiO2样品1mg即可完成32Si的测量,可直接对自然样品进行测量；2样品制备简便，测量时间短 (1小时)；3.AMS高灵敏测量32Si的方法可为32Si半衰期的精确测量提供可靠的技术支撑。因此AMS方法是测量32Si最具潜力的方法。国外目前已对AMS测量32Si的方法进行过一些研究，建立了多种测量方法。 中国原子能科学研究院拥有高能串列加速器，大型Q3D磁谱仪等诸多便利条件，非常有利于进行32Si的测量。为此本工作旨在建立基于中国原子能院AMS系统的32Si测量方法，为其广泛应用研究奠定基础。 为了建立32Si的AMS测量研究，本工作主要开展了以下两方面的研究工作： 1.32Si实验室标准样品的研制： 要开展32Si的测量，首先需要制备32Si的实验室标准和适用于AMS测量的化学流程，为此开展了以下研究工作： （1）32Si生成反应的计算设计：调研各种可能生成32Si的反应道，通过各种途径查找其反应截面数据，对各种反应道进行综合分析，结合国内的实验条件，最终确定了利用原子能院游泳池堆反应堆辐照31P(n,γ)32P(n,p)32Si生产32Si的方案；根据反应堆的中子通量及中子热快比计算了32Si的产额随照射时间的变化，确定了样品的照射时间和需要的冷却时间。 （2）32Si的生产：根据前面的计算设计，我们以Mg2P2O7为样品形式将31P在游泳池堆照射了250小时，理论计算得到照射后样品中32Si与31P原子个数比可达1.3×10-12， （3）32Si样品的制备：建立了从辐照样品中的分离32Si的化学流程，在样品经过冷却后，制备出32Si/Si在10-12的实验室标准样品。在此工作中通过对放化分离流程和稀释流程的改进，建立了自己的简便易操作的样品处理流程。 2. AMS测量32Si方法的建立： 32Si测量最主要的干扰是同量异位素32S的非常强烈的干扰，因此要建立高灵敏的32Si测量方法最主要的工作就是如何排除和鉴别32S，为此开展了以下工