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- 2016-06-09 发布于贵州
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第五章习题
1. 在一个n型半导体样品中,过剩空穴浓度为1013cm-3, 空穴的寿命为100us。计算空穴的复合率。
2. 用强光照射n型样品,假定光被均匀地吸收,产生过剩载流子,产生率为,空穴寿命为(。
(1)写出光照下过剩载流子所满足的方程;
(2)求出光照下达到稳定状态时的过载流子浓度。
3. 有一块n型硅样品,寿命是1us,无光照时电阻率是10((cm。今用光照射该样品,光被半导体均匀的吸收,电子-空穴对的产生率是1022cm-3(s-1,试计算光照下样品的电阻率,并求电导中少数在流子的贡献占多大比例?
4. 一块半导体材料的寿命(=10us,光照在材料中会产生非平衡载流子,试求光照突然停止20us后,其中非平衡载流子将衰减到原来的百分之几?
5. n型硅中,掺杂浓度ND=1016cm-3, 光注入的非平衡载流子浓度(n=(p=1014cm-3。计算无光照和有光照的电导率。
6. 画出p型半导体在光照(小注入)前后的能带图,标出原来的的费米能级和光照时的准费米能级。
7. 掺施主浓度ND=1015cm-3的n型硅,由于光的照射产生了非平衡载流子(n=(p=1014cm-3。试计算这种情况下的准费米能级位置,并和原来的费米能级作比较。
8. 在一块p型半导体中,有一种复合-产生中心,小注入时,被这些中心俘获的电子发射回导带的过程和它与空穴复合的
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