仪器分析课件7.1 X射线荧光分析.ppt

第七章 X射线光谱和表面分析法 7.1.1 概述 7.1.2 X射线荧光分析法的基本原理 7.1.3 X射线荧光光谱仪 7.1.4 分析方法与应用 7.1.1 概述 概述 X射线荧光分析 共同点 7.1.2 X射线荧光法的基本原理 2. X射线光谱 （2）X射线特征光谱 跃迁定则： 特征光谱——定性依据 3.X射线的吸收、散射与衍射 X射线的吸收 元素的X射线吸收光谱 (2) X射线的散射 （b）非相干散射 (3) X射线的衍射 Bragg衍射方程及其作用 4. X-射线荧光的产生 Auger 效应 莫斯莱 （Moseley ）定律 荧光产率? 谱线系 谱线表示符号 7.1.3 X射线荧光光谱仪 晶体分光型X射线荧光光谱仪扫描图 （1）X射线管(X光源) （2）晶体分光器 （3）检测器 （4）记录显示 2. 能量色散型X射线荧光光谱仪 能量色散型X射线荧光光谱仪 能量色散型X射线荧光光谱图 能量色散型X射线荧光光谱图 7.1.4 X射线荧光分析法的应用 定性分析 2.定量分析 3.应用 内容选择 记录显示：放大器、脉冲高度分析器、显示； 三种检测器给出脉冲信号； 脉冲高度分析器：分离次级衍射线，杂质线，散射线。 采用半导体检测器；多道脉冲分析器(1000多道)； 直接测量试样产生的X射线能量； 无分光系统，仪器紧凑，灵敏度高出2～3个数量级。 无高次衍射干扰；同时测定多种元素；适合现场快速分析。 检测器在低温(液氮)下保存使用，连续光谱构成的背景较大。 两种能量色散型仪器： 二次靶和全反射 。 1.定性分析 波长与元素序数间的关系； 特征谱线； 查表：谱线-2? 表。 例：以LiF(200)作为分光晶体，在2?=44. 59处有一强峰,谱线—2?表显示为：Ir(K?)，故试样中含Ir。 (1)每种元素具有一系列波长、强度比确定的谱线； Mo(Z42)的K系谱线K?1，K?2 ，K?1 ，K?2 ，K?3 强度比 100、 50、 14、 5、 7 (2)不同元素的同名谱线，其波长随原子序数增加而减小 Fe(Z=26) Cu(Z=29) Ag(Z=49) K?1： 1.936 1.540 0.559 埃（A） 第一节 X射线荧光光谱法 X-ray spectrometry and surface analysis X-ray fluorescence spectrometry 材料科学的发展，对晶体结构、表面微区、剖面逐层分析有更高要求。 晶体：晶胞参数、晶体构型。 材料表面：单原子层到几微米 逐层分析。 催化剂：表面特性分析。 古董：古画、陶瓷等，无损检测。 X射线光谱分析和电子能谱分析发挥着重要作用 X射线：波长0.001～10 nm。 X射线的能量与原子轨道能级差的数量级相同。 X射线光谱 X射线荧光分析 X射线吸收光谱 X射线衍射分析 利用元素内层电子跃迁产生的荧光光谱，应用于元素的定性、定量分析；固体表面薄层成分分析。 电子能谱分析 利用元素受激发射的内层电子或价电子的能量分布进行元素的定性、定量分析；固体表面薄层成分分析。 电子能谱分析 紫外光电子能谱 X射线光电子能谱 Auger电子能谱 (1) 同属原子发射光谱的范畴。 (2) 涉及元素内层电子。 (3) 以X射线为激发源。 (4) 可用于固体表层或薄层分析。 1. 初级X射线的产生 X-射线：波长0.001～10nm的电磁波； 波长0.01～2.4 nm ， 超铀K系谱线～ 锂K系谱线； 高速电子撞击阳极(Cu，Cr等重金属)：热能(99%)+X射线(1%)。 高速电子撞击使阳极元素的内层电子激发，产生X射线辐射。 （1） 连续X射线光谱 电子→靶原子，产生连续的电磁辐射，连续的X射线光谱。 成因：大量电子的能量转换是一个随机过程，多次碰撞；阴极发射电子方向差异，能量损失随机。 特征光谱产生： 碰撞→跃迁↑(高) →空穴→跃迁↓(低) 特征谱线的频率： R =1.097×107 m-1, Rydberg常数； σ核外电子对核电荷的屏蔽常数； n电子壳层数；c光速；Z原子序数； 不同元素具有自己的特征谱线——定性基础 。 (1)主量子数? n≠0 (2)角量子数? L=±1