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红外光谱最新进展 张普敦 1. 掠角反射(Grazing Incidence Reflection ) 掠角反射的特点： 当红外光照射到粉末样品时，一部分光会在样品表面产生镜面反射，大部分光经折射进入样品内部，与样品分子发生作用而发生反射、折射、散射、吸收等现象，最后由样品表面辐射出来（如图示）。由于漫反射光与样品分子发生了作用，因此将载有样品分子的结构信息。漫发射红外光谱技术在催化剂的研究中有重要应用。 漫发射也是一种外反射技术。 DRIFTS的原理示意图如下： 漫反射技术的特点： 由于漫反射光很弱，所以要获得高质量的漫反射谱除了需要高通量的FTIR仪器和高灵敏的检测器外，漫反射装置的设计也需要有高的收集效率。下面是我们实验室漫反射附件的光路图，另外实物图也给了出来。 由于漫反射光程长可变，很多情况下漫反射光谱测得的反射率R的负对数（log（1/R））与样品的浓度不成线性变化。Kubelka-Munk方程可提供更好的线性关系，因为它消除了对波长依赖的镜面反射的影响。 1）样品粉末必须要用KBr粉末稀释，高浓度区域该方程不适用； 二. 红外光声光谱技术(PAS) 2. 光声光谱的产生原理 2）光声光谱的产生： 由于光学调制频率在音频范围，因此热波产生的信号也是音频信号。 吸收红外光的每个dx层样品都会感受到温度变化幅度为DT的热振动， DT∝I0（1-R）e-axdx 热扩散产生的光声信号与所有DTg的贡献总和有关。这些贡献来自每一样品层，这些样品层中IR光能被吸收，由于这些层十分接近表面，以至于在穿过样品-气体表面后其振幅还没衰减到零。从而 对光声池中的气体产生声压波。并可被麦克风检测出来。 当ms=1/ as=( as/pf)0.5=( as/pVu)0.5 时，通过改变镜速即可改变PAS测量的深度。这里f为调制频率，V为动镜速度，u为红外光的频率。 2．2．3 红外光声光谱的响应 2．2．4 影响PAS的因素 快扫描与步进扫描相调制模式 步进扫描相调制红外光声光谱原理 Depth Profiling of SBS/PET Layered Materials Using Step-Scan Phase Modulation Fourier Transform Infrared Photoacoustic Spectroscopy 2．3红外显微成像技术 （FTIR Microscopic Imaging） 在红外显微成像中，光路系统是最核心的部分。一般有透射成像、反射成像和ATR成像三种方式 ATR成像和反射式成像的光路相似，只不过在ATR成像时需要一个ATR附件，并且在做ATR成像时晶体必须与样品紧密接触，另外，ATR成像一般都是单点成像。 2．3．2 红外显微成像的方式 FPA的特点： 3）线阵列成像 2．3．3 红外显微成像的特点 （6）EVA热熔粘合剂相容性的研究（Anal Sci, 2007, 23 (7), 877-880 ） 红外光谱定量分析 Lambert-Beer 定律： A=ebc 2．3．1 FTIR显微成像技术的原理 FTIR显微技术是将FTIR光谱仪与光学显微镜联用的一种新技术，可以对微米区域的样品进行研究。显微成像技术是对一个选定区域（几十微米到几个毫米）的每一个点进行红外光谱测定，然后用计算机技术将这些点的红外光谱按区域进行二维或三维图谱绘制。 红外成像技术依赖下面三点： 1）扫描； 2）空间编码和解码； 3）红外显微镜及多通道检测器。 通过对二维图谱中特定基团的特征频率的研究，从微观角度得到一些深层次的信息。 透射式红外显微镜光路图 1-上光阑；2-样品；3-下光阑 反射式红外显微镜光路图 1-光阑；2-样品 1）单点显微红外成像 即在选定的区域里逐点进行红外光谱扫描，然后用计算机软件将其组合成二维IR图像。 2）焦平面阵列检测显微成像 焦平面阵列检测器（Focal Plane Array, FPA）是一个多通道检测器（如64×64 MCT，128×128InSb），可对较大面积进行一次采集，而不用逐点移动样品台，减少了机械运动带来的误差。 首篇关于FPA的文章发表在1995年的Anal. Chem.上，很快就被国外各大公司采用。 a）对大面积样品一次扫描即可得到成像图，减少了逐点移动扫描带来的误差； b）FPA检测器最先是美国军方用于卫星监测上的，只是在最近一些年才逐渐应用到民用研究上，但是所有民用仪器上的检测器都是军方淘汰产品，其内部本身存在一些坏点，而且，这些坏点会随着使用越来越多。 单点成像速度太慢（一般都在几十分钟到几个小时），FPA检测器易出现坏点。 为了克服二者的缺点，Nico