基体校正和基本参数法-理学用户第八届学术报告会资料.pptVIP

X射线荧光光谱分析中的基体校正和基本参数法 介 绍 内 容 X射线荧光分析中的定量分析 基 体 校 正 项（M） 工 作 曲 线 法 理 学 软 件 的 工 作 曲 线 计 算 式 工 作 曲 线 直 线 型 工 作 曲 线 曲 线 型 工 作 曲 线 定 点 回 归 计 算 工 作 曲 线 法 - 归 纳 基 体 校 正 吸 收 ? 激 发 效 果 通 常 的 基 体 校 正 各 种 模 式 的 工 作 曲线 基 体 校 正 – 归 纳 用 含 量 进 行 重 叠 校 正 重 叠 校 正 - 归 纳 FP(Fundamental Parameter) 法 工 作 曲 线 法 与 FP 法 的 差 异 与理论基体校正系数的组成的关系 FP 法 和 工 作 曲 线 法 的 比 较 工 作 曲 线 法 和 FP 法 的 结 果 比 较 工 作 曲 线 法 和 FP 法 的 结 果 比 较 工 作 曲 线 法 和 FP 法 的 结 果 比 较 基 本 参 数 法 (ＦＰ法) – 归纳 ． 干扰线为１次线时，可以完全校正 干扰线为１次线时 分析谱线所受到的由样品产生的吸收效应与干扰线相同，所以，样品成分对校正系数不产生影响。 分析Ｓ时与Mo-La发生重叠时的校正系数 0.0101 20.0 Pb 0.0101 1.0 Pb 0.010