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数字电路测试方法的发展 数字电路测试方法的发展 数字电路测试方法的发展 数字电路测试方法的发展 第1.2 节 穷举测试法 1.2.1 基本思想 在n维布尔空间，如果对任何测试矢量均满足下关系： f*(x)=f(x) 即实际输出响应恒等于无故障输出，则被测电路就是无故障电路。因此，穷举测试就是用未经简化的完备测试集的测试。测试长度n=2n 。 优点： 测试质量高，d=1； 数学模型简单，只需一个n维测试矢量发生器，输出2n个测试矢量即可。 缺点：测试长度太长，计算费时。且随n的增加按指数增加。 例：n=180 则测试长度为 2n = 2180 = 1054 如用计算机辅助测试，测试速率为10Msa/s=107个测试矢量/秒 则需时： 1054 /107 = 1047 秒=3x1039年！！ 至今宇宙寿命才15亿年=1.5x1039年，显然，这是无法实现的！！ 第1.2 节 穷举测试法 伪穷举测试法：将被测电路划分为若干子模块，再对子模块进行穷举测试，则可大大减少测试长度，而同时具有穷举测试的优点。 如分为两块：n=n1+n2 则有： 2n =2n1 x2n22n1 +2n2 如：n=9 29=512 分成2块： n1=4, n2=5 分块进行穷举测试： 24=16, 25=32 总测试长度为16+32=48512!! 大大减少； n愈大，分块愈多，则减少愈多。 1.2.2 穷举测试法的实施 实施关键：如何分块才能使测试长度最短！ 引入图论中“树”的概念：将电路图1.2.3 画成树。 权的概念：如果存在从i到e的有向通路，则边 e叫做依赖于原始输入xi ,而边e依赖的原始输 入端的数目称为边e的权，记为p(e)，并标在 相应树干的旁边。 分块原则： 若G是有n个输入的无扇出电路，则边e的权满足 p(e)=[(n+1)/2]取整 则从边e处分块将使电路分成两块的伪穷举测试所 需的测试长度最少。 4 2 3 4 6 7 13 树叶--原始输入 节点 门 树干 输入/ 输出关系 树根 原始 输出 1.2.2 穷举测试法的实施 以上图为例：n=13 穷举测试需 29 =8192个测试。 伪穷举测试 分为2块 p(e)=[(n+1)/2]=[(13+1)/2]=7 1.2.2 穷举测试法的实施 以上图为例，n=13，穷举测试长度为 29 =8192 伪穷举测试 分为2块： p(e)=[(n+1)/2]取整=[（13+1）/2]=7 在边e的权为7处分块，总的测试长度为： NTP=27 +27 =2568192 分为多（S）块： l=[(n+3-1)/s]取整 k=1,2,…….s； 则 NTP=各分块测试之和。 如s=3 l3=[（13+3-1）/3]=5 取接近数 NTP=26 +25 +24 =1122568192 如s=4 l4 =4, NTP=641122568192 4 2 3 4 6 7 7 树叶--原始输入 节点 门 树干 输入/ 输出关系 树根 原始 输出 伪输入端(1) 1.2.2 穷举测试法的实施 对于“带汇聚扇出”的复杂电路 为了分块，引入相依率的概念。 相依率定义：边e对原始输入端xi 的相依率R（e,i)定义为： 1，当e=i，即原始输入端对自己的相依率为1，全相依，或排它相依； 0，当i不为j，即任何原始输入端对其它原始输入端的相依率为0，不相依； 1/f 累加 R(ck ,i)，j=1,2,…..f，部分相依，0R1； 权：在边e对所有原始输入端的相依率中，非零相依率的个数定义为边e的权，记为p(e)。这意味着边e与p(e)个原始输入端有关。 排它权：在边e对所有原始输入端的相依率中，相依率为1的个数定义为边e的排它权，记为xp(e)。这意味着边e与xp(e)个原始输入端排它相依，显然：p(e)xp(e)； 分块原则：NTP=2p(e) +2n-xp(e)+1 p(e)=[(n+1)/2]取整 p(e)应小，xp(e)应大， 但因 p(e)xp(e)，一般在p(e)=xp(e)处分块 1.2.2 穷举测试法的实施 以图1.2.6(P20)为例，首先画出树结构。然后求出R(e,i),p(e),xp(e)。 R(e,i) 路线 x1 x2 x3 x4 x5 x6 x7 x8 p(e) xp(e) ____________________