基本特性参数解说.ppt

光电器件的类型与特点 光电效应：光照射到物体表面上使物体的电学特 性发生变化． 光电子发射：物体受光照后向外发射电子—— 多发生于金属和金属氧化物． 光电导效应：半导体受光照后，内部产生光生载 流子，使半导体中载流子数显著 增加而电阻减少． 光生伏特效应：光照在半导体PN结或金属—半导 体接触上时，会在PN结或金属— 半导体接触的两侧产生光生电动势。 光电检测器件的类型 光电检测器件是利用物质的光电效应把光信号转换成电信号的器件. 光电检测器件分为两大类: ——光子(光电子)检测器件 ——热电检测器件 光子器件 热电器件 真空器件 固体器件 光电管 光电倍增管 真空摄像管 变像管 像增强管 光敏电阻 光电池 光电二极管 光电三极管 光纤传感器 电荷耦合器件 （即CCD ） 热电偶/热电堆 热辐射计/热敏电阻 热释电探测器 光电检测器件 光电检测器件的特点 光子器件 热电器件 响应波长有选择性，一般有截止波长，超过该波长，器件无响应。 响应波长无选择性，对可见光到远红外的各种波长的辐射同样敏感 响应快，吸收辐射产生信号需要的时间短， 一般为纳秒到几百微秒 响应慢，一般为几毫秒 第三章 光电检测器件第一节 光电器件的基本特性参数 响应特性(或称:灵敏度) 噪声特性 量子效率 线性度 工作温度 一、响应特性 １．响应度（或称灵敏度）：是光电探测器输出信号与输入光功率之间关系的度量。描述的是光电探测器件的光电转换效率。 响应度：随入射光波长变化而变化 响应度分为：电压响应率和电流响应率 电压响应率：光电探测器件输出电压与入射光功率之比。 电流响应率：光电探测器件输出电流与入射光功率之比。 ２．光谱响应度：探测器在波长为λ的单色光照射下，输出电压或电流与入射的单色光功率之比 。 ３．积分响应度：检测器对各种波长光连续辐射量的反应程度。 ４．响应时间：响应时间τ是描述光电探测器对入射光响应快慢的一个参数。 ——上升时间：入射光照射到光电探测器后，光电探测器输出从稳定值的10%上升到90%所需要的时间。 ——下降时间：入射光遮断后，光电探测器输出从稳定值的90%下降到稳定值的10%所需要的时间。 ５．频率响应：光电探测器的响应随入射光的调制频率而变化的特性称为频率响应。 由于光电探测器信号产生和消失存在着一个滞后过程，所以入射光的调制频率对光电探测器的响应会有较大的影响。 光电探测器响应率与入射调制频率的关系 为调制频率为f 时的响应率 为调制频率为零时的响应率 ? 为时间常数（对于RC回路，?=RC） 上限截止频率 时间常数决定了光电探测器频率响应的带宽 二、噪声特性 光辐射的探测过程：检测、转换、传输、处理等。 信号：有用：一般按一定的规律变化 无用：随时间无规律变化。 噪声在实际的光电探测系统中是极其有害的。由于噪声总是与有用信号混在一起，因而影响对信号特别是微弱信号的正确探测。 一个光电探测系统的极限探测能力往往受探测系统的噪声所限制。 所以在精密测量、通信、自动控制等领域，减小和消除噪声是十分重要的问题。 噪声的主要特性------统计特性 噪声的概率分布 （1）高斯分布（对于连续变量如电流、电压） （2）泊松分布（对于离散变量如光子数、电子数） 光电探测器常见的噪声 一、噪声的来源 探测系统：探测器件；前置放大、主放大电路；后处理（显示、打印等） 噪声源：与光信号检测有关的噪声 与电路有关的电路噪声。 与光信号检测有关的噪声包括： 热噪声 散粒噪声 产生-复合噪声 1/f噪声 热噪声 或称约翰逊噪声，即载流子无规则的热运动造成的噪声。 导体或半导体中每一电子都携带着电子电量作随机运动(相当于微电脉冲)，尽管其平均值为零，但瞬时电流扰动在导体两端会产生一个均方根电压，称为热噪声电压。 热噪声存在于任何电阻中，热噪声与温度成正比，与频率无关，热噪声又称为白噪声。 2. 散粒噪声 入射到光探测器表面的光子是随机的， 光电子从光电阴极表面逸出是随机的， PN结中通过结区的载流子数是随机的。 散粒噪声也是白噪声，与频率无关。 散粒噪声是光电探测器的固有特性，对大多数光电探测器的研究表明：散粒噪声具有支配地位。例如光伏器件的PN结势垒是产生