西工大数电实验报告_实验一TTL集成逻辑门电路参数测试.docVIP

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2016-07-05 发布于重庆
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西工大数电实验报告_实验一TTL集成逻辑门电路参数测试.doc

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西工大数电实验报告_实验一TTL集成逻辑门电路参数测试

实验一 TTL集成逻辑门电路参数测试姓名：同组：一、实验目的：（1）加深了解TTL逻辑门的参数意义。（2）掌握TTL逻辑门电路的主要参数及测量方法。（3）认识各种电路及掌握空闲端处理方法。二、实验设备：数字电路实验箱，数字双踪示波器，函数信号发生器，数字万用表，74LS00，电位器，电阻。三、实验原理：门电路是数字逻辑电路的基本组成单元，目前使用最普遍的双极型数字集成电路是TTL逻辑门电路。 TTL集成电路的使用规则：（1）插集成块时，要认清定位标记，不得插反。（2）使用电源电压范围为+4.5V~+5.5V。实验中要求使用Vcc=+5V。电源极性不允许接错。（3）空闲输入端处理方法悬空，相当于正逻辑“1”，一般小规模集成电路的数据输入端允许悬空处理。但易受外界干扰，导致电路逻辑功能不正常。因此，对于接有长线的输入端，中规模以上的集成电路和使用集成电路较多的复杂电路，所有控制输入端必须按逻辑要求接入电路，不允许悬空。（4）输入端通过电阻接地，电阻值的大小将直接影响电路所处状态。（5）输出端不允许并联使用（三态门和OC门除外），否则不仅会使电路逻辑功能混乱，并会导致器件损坏。（6）输出端不允许直接接电源Vcc，不允许直接接地，否则会损坏器件。四、实验内容：五、实验数据：电压传输特性测试： V1/V 0.2 0.4 0.6 0.7 0.8 0.9 1.0 1.1 1.2 1.3 V2/V(实际) 4.38 4.37 4.39 4.39 4.34 4.11 1.5 1.38 1.30 1.22 V2/V(理论) 5.0 5.0 5.0 5.0 5.0 5.0 5.0 5.0 5.0 5.0 V1/V 1.4 1.5 1.6 1.7 1.8 1.9 2.0 2.1 2.2 2.4 V2/V(实际) 1.16 1.09 1.02 0.97 0.88 0.79 0.174 0.176 0.175 0.176 V2/V(理论) 5.0 5.0 5.0 5.0 5.0 5.0 5.0 5.0 5.0 5.0 V1/V 2.6 2.8 3.0 3.2 3.4 3.6 3.8 4.0 4.5 5.0 V2/V(实际) 0.175 0.175 0.175 0.175 0.175 0.175 0.175 0.175 0.175 0.175 V2/V(理论) 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 电压传输特性曲线数据分析由图标可以看出，关门电平为0.9v，开门电平为1.9v。静态低电平噪声容限V(NL)=0.9-0=0.9V 静态高电平噪声容限V(NH)=5-1.9=3.1V