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DNV - June 1999 q:\de3210\product\ISO2000\overzicht ISO 2000 ? 1999 DNV B.V. - Rotterdam J. Bruins, maart 1999 测量系统分析Measurement System Analysis 测量系统分析 MSA MSA QS9000/TS16949系列手册之一 1. QS-9000与 MSA QS-9000第一部分4.11.4： 为分析在各种测量和试验设备系统测量结果中表现的变差，必须进行适当的统计研究。此要求必须用于在控制计划中提及的测量系统。所有的分析方法及接受准则应与测量系统分析参考手册相一致（如：偏倚、线性、稳定性、重复性、再现性研究）。如经顾客批准，也可采用其它分析方法及接受准则。 1.1 ISO/TS16949与 MSA TS16949：2002标准： 7.6.1测量系统分析 为分析在各种测量和试验设备系统测量结果中呈现的变差，应进行适当的统计研究。此要求应用于在控制计划中提及的测量系统。所用的分析方法及接受准则应与顾客关于测量系统分析的参考手册相一致。如经顾客批准，也可采用其它分析方法及接受准则。 2. MSA手册目的 介绍、选择、评定测量系统的方法，主要用于工业测量系统 不作为所有测量系统分析的概要，主要焦点是每个零件能重