第四章计算机控制系统性能指标描述ppt.pptVIP

Ｔ＝2ｓ时根轨迹图 系统的临界增益约为K=0.57 采样周期Ｔ与系统的临界增益Ｋ密切相关，采样周期Ｔ增大，临界增益Ｋ降低。可见，根轨迹可用于分析线性离散系统的性能，也能用来设计系统。 系统零、极点在Ｚ平面的分布改变时，根轨迹的形状跟着变化，系统的性能也跟着变化。 为了满足性能指标的要求，可以采用零极点对消，或加入新的零极点，从而得到要求的性能指标。 根轨迹图在系统分析设计中的应用 本章小结 4.1 计算机控制系统的性能及其指标 4.2 线性离散系统的稳定性分析 4.3 离散系统的稳态误差分析 4.4 线性离散系统的动态响应分析 4.5 线性离散系统的根轨迹分析法 本章简要介绍了离散控制系统的性能指标并采用Z变换分析法对线性离散系统的性能如稳定性、稳态特性和动态特性等进行了分析和讨论，和连续控制系统相比较，其基本概念和分析方法相似，所不同的是它是在Z域来进行的。本章内容的学习对计算机控制系统的设计打下了基础。 * t=0.1;k=6;z=-0.5;p=[-2 1 0]; [n1,d1]=zp2tf(z,p,k);s=tf(n1,d1); sys=feedback(s,1); num=sys.num{1};den=[sys.den{1},0]; sys=tf(num,den); sysd=c2d(sys,t) step(sys); t1=[0:t:50]