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图 13.12 输入抖动容限测试系统框图 ? (2)遮光式强度调制型光纤位移传感器 9-51 (2)遮光式强度调制型光纤位移传感器　 9-52 (3)基于微弯损耗的强度调制型光纤位移传感器　  9-53 (4)基于辐射损耗的光纤位移传感器　 9-54 (5)基于光弹效应的强度调制型光纤位移传感器 图9-55　基于光弹效应的光纤位移传感器 2. 相位调制型 (1)迈克尔逊光纤干涉仪　迈克尔逊光纤干涉仪的结构如图9-56a所示，从激光器发出的光束被3dB耦合器分成两路入射到光纤，其中一路为参考臂，另一路为信号臂。(2)马赫-泽德光纤干涉仪　马赫-泽德光纤干涉仪的结构如图9-56b所示，光路中采用两只腐蚀或搭接的3dB耦合器。(3)萨古纳克光纤干涉仪　萨古纳克光纤干涉仪通常用来测量角速度或角位移，其结构如图9-56c所示。(4)法布里-珀罗光纤干涉仪　如图9-56d所示为一种新型的法布里-珀罗光纤干涉仪原理图。 2. 相位调制型 图9-56　几种光纤干涉仪a)迈克尔逊式　b)马赫-泽德式　c)萨固纳克式　d)法布里-珀罗式 1.利用法拉第效应的光纤电流传感器 图9-62　光纤电流传感器原理图 2.光纤干涉型电流传感器 图9-63　用作电流传感器的全光纤马赫-泽德干涉仪 光纤衰减测量的常用方法 1) 切断法 已知光纤长度为L，将被测光纤经扰模器接至光源，如图13.2所示。 图 13.2 切断法测光纤衰减 先测得光纤终端输出功率P2。 然后在扰模器附近的地方切断，测得光功率P1， 它相当于输入光纤的功率。如果略去扰模器上的短光纤的长度， 则光纤每千米衰减为 光纤的端面必须平整清洁，否则将影响测量的正确性。  切断法是测量光纤衰减最基本、最直观、最简单的方法， 精确性较高， 但它必须破坏光纤，一般在工程现场不能采用。 (13.1) 2) 插入法 插入法原理如图13.3所示。利用长光纤(L′＞Le)建立稳态模。光源发送固定的光功率，于是在光纤终端接收到的光功率可以表示光纤的衰减值。如果接收端装有对数放大器，则光纤衰减可用dB数直读。 图 13.3 插入法测光纤衰减 3) 反向散射法(光时域反射仪) 反向散射法测量光纤衰减，其工作原理与光学雷达相似。 当光纤输入端注入一个强脉冲并沿光纤传输时，由于光纤内部存在微小不均匀而产生瑞利散射，在反方向观察到衰减的连续回波， 利用回波可以测量光纤的平均衰减系数、沿光纤长度衰减系数的变化、接头损耗等等。  按上述原理做成的仪器叫做光学时域反射仪。用一个方向耦合器或波束分离器将周期性的窄光脉冲注入光纤一端， 因瑞利散射引起的回波用高速响应的检测器检波，通过分析反向散射回波波形来确定光纤特性。反向散射法的测试装置构成如图13.4所示， 图 13.4 光学时域反射仪 回波波形如图13.5所示，它有一些明显的特点： ① 由光纤输入端面Fresnel反射引起的初始脉冲。 在理想情况下，光纤端面反射大约4%的功率； ② 沿光纤长度分布的反向散射光， 沿着光纤受到衰减；③ 光纤连接接头的光功率损耗， 引起回波的突然下降；④ 光纤断裂处，Fresnel反射引起脉冲上升， 利用初始脉冲与断裂处反射脉冲之间的时间差，可以确定光纤断裂位置， 即 图 13.5 回波波形 利用光时域反射仪可以测量光纤任意点的衰减，参阅图13.5。 当光脉冲到达L1时，发生的反射脉冲回到始端的强度为P1。同样， 光脉冲到达离L1的距离为ΔL的点L2时，发生的反射脉冲回到始端的强度为P2。 从而求得L1 ~ L2间的平均衰减为 (13.3) 光时域反射分析仪(OTDR)测量光纤的缺点是两端测出的衰减值有差别， 这是因为无法控制反向散射的模场分布，从而导致测出的光纤衰减与散射损耗值不会真正相等，通常要取两端测出的平均值。  另外，用OTDR测量光纤时，在始端有一个盲区(端面反射区)，多模光纤的盲区较小； 单模光纤的盲区则较大， 相当于100 m左右长的光纤。因此，测量单模光纤时，要先连接长度在100 m以上的参考光纤，才能进行测试。  应当指出，用OTDR测光纤时，在两根光纤的连接点可能出现“增益”假象，其实这是连接点的光反射。这种情况只出现在两根光纤芯径不同时，当光由较大的芯径向较小的芯径传输时， 有一部分光在连接点产生反射，从而出现增益的假象。 2. 光纤带宽的测量 1) 时域法 图 13.6 时域法测试方框图 脉冲发生器产生出很窄的电脉冲波， 驱动