大规模集成电路简介.ppt

* ?セレクタ、レジスタを適切にコントロールすることにより様々な動作モードを可能にし ている。 ?元の回路に対しセレクタ1段分の遅延が発生する。 * ?TMSの値をセットし、TCKを印加することによりTAPコントローラの状態を順次遷移 させることができ、これによりバウンダリスキャンの動作を制御する。 * ?バウンダリスキャンの主な命令□IEEE1149.1必須命令 －EXTESTLSI間の接続チェックを行なうための命令 －SAMPLE/PRELOADLSIの入出力値を確認するために値の取り込み/設定をする命令 －BYPASSLSIをバイパスするとともに、LSIを通常状態にする命令□その他主なオプション命令 －INTESTボードに搭載された状態でLSI内部をテストするための命令 －RUNBISTLSI内部をテストするBISTを起動するための命令 * ?BIST（Built-In Self Test）はスキャンと並んで代表的なDFT手法である。 ?BISTはテストパターン発生器や、テスト出力応答評価部といった従来テスタが保持していた機能をチップに組み込むことによりテストを容易にしようという手法である。 ?チップに組み込むと言う制約からテストパターン発生器としては比較的ハードウェア量の少ないLFSR（Linear Feedback Shirt Register）、ROM、カウンタなど