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第5章 热辐射探测器件 本章主要介绍热辐射探测器件的工作原理、基本特性、热辐射探测器件的工作电路和典型应用。它为基于光辐射与物质相互作用的热效应（电阻温度效应、温差电效应、热释电效应）而制成的器件。由于它具有工作时不需要制冷，光谱响应无波长选择性等突出特点，使它的应用已进入某些被光子探测器独占的应用领域和光子探测器无法实现的应用领域。热电探测器的主要缺点是探测率较低和时间常量较大。要同时获得灵敏度高、响应快的性能是困难的。 重点：热敏电阻、热电偶尤其是热释电探测器的工作原 理及热释电探测器的阻抗特性 1. 温度变化方程 5.1 热辐射的一般规律 热电传感器件是将入射到器件上的辐射能转换成热能，然后再把热能转换成电能的器件。显然，输出信号的形成过程包括两个阶段；第一阶段为将辐射能转换成热能的阶段（入射辐射引起温升的阶段），是共性的，具有普遍的意义。第二阶段是将热能转换成各种形式的电能（各种电信号的输出）阶段。 1. 温度变化方程 当辐射功率为φe的热辐射入射到器件表面时，令表面的吸收系数为α，则器件吸收的热辐射功率为αφe ；其中一部分使器件的温度升高，另一部分补偿器件与环境的热交换所损失的能量。设单位时间器件的内能增量为Δφi ，则有 （5-1） 式中 称为热容，表示探测器升高一度所需的热量（J/K）。 热交换能量的方式有三种；传导、辐射和对流。设单位时间通过传导损失的能量 （5-2） 式中G为器件与环境的热传导系数，它表示在单位时间内由单位温差引起的能量损失（ J/K﹒s ,W/ K）。即 （5-3） 设入射辐射为正弦辐射通量 ，则有： （5-4） t = 0,ΔT = 0，得热传导的方程为 （5-5） 设 称为热敏器件的热时间常数； 称为热阻。 当时间t τT 时， （5-6） （5-7） 分析： 1、要增大 ，则需较小 ，减小 , 减小 ； 2、增大 则要求减小 ，使 增大，要折中考虑。 增加热导可减小热时间常数，这有与要提高温升的需要相矛盾，因此，减少热时间常数主要采用降低热容的办法，这就是多数热探测器的光敏元做的小巧的原因。 热敏器件吸收交变辐射能所引起的温升与吸收系数成正比。因此，几乎所有的热敏器件都被涂黑。另外，它又与工作频率ω有关，ω增高，其温升下降。 在低频时（ ωτT ＜＜1），它与热导G成反比，有： （5-8） 可见， ωτT ＜＜1 ，减小热导是增高温升、提高灵敏度的好方法，但是热导与热时间常数成反比，提高温升将使器件的惯性增大，时间响应变坏。 ωτT 1 （5-9） 温升与热导无关，而与热容成反比，且随频率的增高而衰减。 当ω= 0时 （5-10） ΔT 由初始零值开始随时间t 增加，当t→∞时，ΔT 达到稳定值。等于τT 时，上升到稳定值的63%。故τT 被称为器件的热时间常数。 2. 热电器件的最小可探测功率 根据斯忒番-玻耳兹曼定律，若器件的温度为T，接收面积为A，并可以将探测器近似为黑体,当它与环境处于热平衡时，单位时间所辐射的能量为 （5-11） （5-12） 当热敏器件与环境温度处于平衡时，在频带宽度△f内，热敏器件温度起伏的均方根值为： （5-13） 热敏器件仅仅受温度影响的最小可探测功率（输出端信噪比为1时，入射功率的有效值）或称温度等效功率PNE为： （5-14） 在常温环境下（T=300K），对于黑体，热敏器件的面积为100mm2,频带宽度为1，则由式（5-14）可以得到常温下热敏器件的最小可探测功率为5×10-11W左右。 用PNE的倒数作为衡量探测器最小可探测能力的参数，并称之为探测率。为了便于对不同面积和不同工作带宽的器件进行比较，因此引入归一化探测率D*，热敏器件的比探测率为 （5-15） 5.2 热敏电阻与热电堆探测器 5.2.1 热敏电阻 （电阻温度效应） 热敏效应：物质的某些性质随入射光的加热作用引起的温度变化而变化的现象。热敏效应的特点是入射光与材料的晶格相互作用，晶格因吸收光能而增加振动能量，引起材料的温度上升，从而引起与温度有关的材料电学参量发生变化。这与光子能量直接转换给光电子的光电效应有本质不同。 热敏效应与入射光的波长无关，因而材料温度的变化仅决定于光功率或变化速率，而与入射光的光谱成分无关。 热敏效应包括电阻温度效应、温差电效应和热释电效应等。 凡吸收入射辐射后引起温升而使电阻改变，导致负载电阻两端电压的变化，并给出电信号的器件叫做热敏电阻。 相对