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* * 3.4 MOS逻辑门 3.4.1 MOS晶体管 3.4.2 MOS反相器和门电路 图3-4-1 N沟道增强型MOS管 N+ N+ S G D SiO2 P-Si (a) 结构示意图 (b) 符号 S G D 3.4.1 MOS晶体管 MOS(Metal Oxide Semiconductor)集成电路的基本元件是MOS晶体管。MOS管有三个电极:源极S、漏极D和栅极G。它是用栅极电压来控制漏源电流。 MOS管有P型沟道和N型沟道两种,按其工作特性又分为增强型和耗尽型两类。下面以N沟道增强型MOS管为例进行讨论。 图3-4-2 N沟道增强型MOS管输出特性曲线 O iDS vDS (Ⅰ)非饱和区 (Ⅱ)非饱和区 (Ⅲ)截止区 vDS= vGS-VGS(th)N vGS0 1.输出特性曲线和阈值电压 输出特性曲线表示在一定栅源电压vGS下,漏源电流iDS和漏源电压vDS之间的关系。 非饱和区:vDS很小,当满足vDS(vGS-VGS(th)N)时, iDS基本上随vDS线性上升。vGS越大,曲线越陡,相应等效电阻越小。该区域又称为可调电阻区域。 饱和区:当vDS≥(vGS-VGS(th)N)以后,漏极附近的沟道被夹断。iDS不随vDS线性上升,而是达到某一数值,几乎近似不变。 图3-4-3 N沟道MOS 管转移特性 O iDS vGS VGS(th)N vDS=常数 截止区:vGSVGS(th)N,还没有形成导电沟道,因此iDS=0。 2.转移特性和跨导 MOS管的转移特性是指在漏源电压vDS一定时,栅源电压vGS和漏源电流iDS之间的关系。 当vGSVGS(th)N时,iDS=0,只有当vGSVGS(th)N后,在vDS作用下才形成iDS电流。 vGS和iDS之间的关系,通常用跨导gm这个参数表示。即: 它表明了vGS对iDS的控制能力,数值越大,栅极控制作用越强。 3.输入电阻和输入电容 MOS管的栅、源两极通常作为输入端,输入电阻实质上就是介质SiO2层的绝缘电阻。若SiO2的厚度在0.15μm左右,绝缘电阻可达1012Ω以上。 MOS管的高输入电阻,使得其静态负载能力很强;栅极泄漏电流很小,可以将信息在输入端的栅极电容上暂存,为动态MOS电容和大规模存储电路的实现创造了条件。 MOS管的输入电容是指栅、源之间存在很小的寄生电容,其数值约为百分之几皮法到几皮法。 4.直流导通电阻 MOS管导通时,漏源电压vDS和漏源电流iDS的比值称为直流导通电阻 3.4.2 MOS反相器和门电路 在MOS集成电路中,反相器是基本的单元。按其结构和负载不同,可大致分为四种类型。 (1) 电阻负载MOS电路 (2) E/E MOS(Enhancement/Enhancement MOS)反相器 (3) E/D MOS(Enhancement/Depletion MOS)反相器 (4) CMOS(Complementary MOS)反相器 其中电阻负载MOS电路的输入器件是增强型MOS管,负载是线性电阻,这种反相器在集成电路中很少使用。 本节主要讨论以MOS管作为负载器件的反相器及逻辑门电路。 图3-4-4 E/E MOS反相器 S G D S G D vI vO VDD TL T0 1.E/E MOS反相器及逻辑门电路 特点:(1) 单一电源,结构简单; (2) 负载管始终工作于饱和区,工作速度低,功耗大; (3) 最大输出电压为VDD-VGS(th)NL,有不必要的电源损耗; (4) 输出高、低电平之比VOH/VOL =2gm0/gmL,又称为“有比电路”。 图3-4-5 E/E MOS反相器的图解分析 O iDS vDSL VGS(th)NL iDS=k(vDSL- VGS(th)NL)2 O iDS vDS0 VDD-VGS(th)NL VDD A ● B TL T0 (a) (b) 图3-4-6 E/E MOS与非门、或非门电路 A Y VDD TL T1 B T2 Y VDD TL A T1 B T2 (a) E/E MOS与非门 (b) E/E MOS或非门 E/E MOS与非门、或非门电路 只有当输入信号大于VGS(th)NL时,对应的输入管才导通,否则截止。 *
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