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光学设计流程 光学设计概述 ※确定仪器的性能要求 光学设计概述 ※光学系统的总体设计和布局 光学系统的性能 系统参数-孔径 光学系统的性能 系统参数:视场 光学系统的性能 系统参数:光谱 光学系统的性能 系统参数: 焦距或者垂轴放大倍率: 光学系统的性能 系统外形尺寸: 总长 物像距 最大口径 像质评价指标 ※Ray aberration curves(扇形图，垂轴像差等) ※Spot Diagram(几何点列图，弥散斑) ※MTF（调制传递函数） ※PSF（点扩展函数） ※Wavefront(波像差) ※能量分析 ※像差系数 。。。。。。。 CODE?V?Structure Two?Types?of?Lens?Data Specification?Data Surface?Data Surface?Coordinate?System 右手坐标系 Z?轴即为光轴(对centered?systems而言) 在每一个表面，都有一个局部x,y,z坐标系统 Optical?Surface?Definitions Optical?Systems?‐Basic?Terminology?and?Conventions 光线按表面序号，自小到大，自左向右传输 边缘光线自轴上点出发，经过孔径的边缘继续往前传输 主光线自轴外点出发，经过孔径中心继续往前传输 Image?surface?thickness SI为一离焦值 –实际image?distance?系SI‐1?同SI之和 Glass?Data Private?Catalog System?Data:?孔径光阑准备知识 System?Data:?孔径光阑准备知识 System?Data:?Pupil Pupil定义：必须(REQUIRED） –可在System?Data的Pupil页或New?Lens?Wizard输入 –Pupil决定系统收集光线的能力 –孔径最好定义在物方(物体无穷大时，常用Entrance?Pupil?Diameter,?有限大小的物体用Object?Numerical?Aperture?) –当Entrance?Pupil?相当远的时候，必须复选上Telecentric?flag?(这样所有视场的主光线本质上是平行于光轴的) Entering?Wavelength?Data Wavelength?(WL)?也是一个必须输入的参量(REQUIRED） –单位:?nanometers,?按长波到短波的次序(如果输入是无序的，程序会自动重排) –注意：Wavelengths?没有多重配置 必须指定一个波长为参考波长(reference?wavelength?,REF) –参考波长用于first‐order数据计算以及单光线追迹 –缺省为中间波长(or或中间偏左（短）波长) –参考波长可以设置成多重配置型 波长数最多为21 在多色图像像质评价中还要用到Wavelength?weights?(WTW)–Wavelength?weights可以有多重配置 除此之外，对单层膜，还需要指定镀膜对应的波长 –仅用于偏振光线追迹 –缺省是参考波长 System?Data:?Wavelengths Entering?Field?Data System?Data:?Fields/Vignetting Homework?1?‐Entry?of?a?TessarLens System?Data：Reference?SphereLocation System?Data:?System?Settings Advanced?System?Data Afocal?–无焦系统 Through?focus?(定义用于分析像质情况的的焦面位置) Chief?Ray?Aiming?(覆盖掉缺省的chief?ray叠代) Polarization?(激发并定义起始偏振状态) Pupil?apodization?(Gaussian或其他强度分布，主要用于模拟激光或光纤输入光束) 像散物(Astigmatic?object，定义本身具有像散的物的焦移及其方向如某些激光二极管) Solves System?Data:?System?Solves Surface?Solves Examples?of?Surface?Solves 单片透镜（Singlet） 单片球面透镜 应用 成像系统 照明系统 通讯系统 提出设计要求 孔径 ： 允许多少光线进入系统 （F#，NA ，D） 视场： 允许的成像范围（视场角，物高，像高） 成像光谱： 可见光，单色光，红外，紫外等 焦距或者放大倍率 成像质量: MTF 初始结构设计 应用高斯光学理论