材料近代分析测试方应用现状与发展趋势.docVIP

《材料近代分析测试方法》 课程期末大作业 题 目： 材料现代测试分析方法的 应用现状与发展趋势 学生姓名： 李敏 院 （系）： 材料科学与工程学院 专业班级： 材料1005 学 号： 201012010513 任课教师： 胥聪敏 完成日期： 2013年11月20日 目录 1 X射线衍射分析方法应用现状与发张趋势 2 1.1 X射线衍射分析方法的应用 2 1.1.1 2 1.1.2 应力的测定 3 1.1.点阵常数的精确测定 4 1.1.5 单晶取向测定 4 1.2 X射线衍射法的发展趋势 5 5 2.1 透射电子显微镜 5 2.1.1 透射电子显微（TEM）分析的应用现状 5 2.1.1.1 表面形貌观察? 6 2.1.1.2 纳米材料分析? 6 2.1.3 晶体缺陷分析? 6 2.1.1.5 萃取复型的应用?? 7 2.1.2 透射电子显微分析的发展趋势? 7 2.2 扫描电子显微（SEM）分析 8 2.2.1? 扫描电子显微分析的应用现状? 8 2.2.1.1?表面形貌衬度? 8 2.2.1.2 8 2.2.2 扫描电子显微分析的发展趋势? 9 3 电子能谱分析方法应用现状与发展趋势 9 3.1 9 3.1.1 俄歇电子能谱分析的应用现状? 9 3.1.1.1 定性分析? 9 3.1.2 微区分析? 10 3.1.1.3 状态分析? 10 3.1.1.4 深度剖面分析? 10 3.1.1.5 界面分析? 10 3.1.1.6 定量分析? 10 3.1.2? 俄歇电子能谱的分析技术发展趋势???? 11 3.2 X射线光电子能谱的分析 11 3.2.1 X 11 3.2.1.1 元素的定性分析? 11 3.2.1.2?元素的定量分析? 12 3.2.1.3 固体的表面分析? 12 3.2.1.4?化合物的结构? 12 3.2.1.5?分子生物学中的应用? 12 4 13 4.1 红外光谱分析技术的现状与发展趋势? 13 4.1.1? 红外技术的发展及主要应用领域? 13 4.1.2?红外技术产业的主要领域方向? 14 4.2 拉曼光谱分析技术的应用方向及发展前景 14 14 1 X射线衍射分析方法应用现状与发张趋势 1.1 X射线衍射分析方法的应用　 1.1.1 物相分析? 物相分析是指确定材料由哪些相组成和确定各组成相的含量。物相是决定或影响材料性能的重要因素，因而物相分析在材料分析与科学研究中具有广泛的应用。物相分析主要包括定性分析和定量分析两种。【1】物相定性分析的任务是鉴别待测样由哪些物相组成。注意物相分析通常不是成分分析。一般化学分析可以得出试样中所含的元素种类及其含量但却不能说明其存在状态。例如有两种晶体物质混在一起经化学分析可知混合物中有Ca2+、Na+、Cl-及SO42-CaSO4和NaClNa2SO4和CaCl2。 1969年起，由ASTM和英、法、加拿大等国家的有关协会组成国际机构的“粉末衍射标准联合委员会”，负责卡片的搜集、校订和编辑工作，所以，以后的卡片成为粉末衍射卡（the?Powder?Diffraction?File），简称PDF卡，或称JCPDS卡（the?Joint?Committee?on?Powder?Diffraction?Standard）。常用的有两种：数字索引和字母索引。 1.1.2 应力的测定 X射线测定应力以衍射花样特征的变化作为应变的量度。宏观应力均匀分布在物体中较大范围内，产生的均匀应变表现为该范围内方向相同的各晶粒中同名晶面间距变化相同，导致衍射线向某方向位移，这就是X射线测量宏观应力的基础；微观应力在各晶粒间甚至一个晶粒内各部分间彼此不同，产生的不均匀应变表现为某些区域晶面间距增加、某些区域晶面间距减少，结果使衍射线向不同方向位移，使其衍射线漫散宽化，这是X射线测量微观应力的基础。超微观应力在应变区内使原子偏离平衡位置，导致衍射线强度减弱，故可以通过X射线强度的变化测定超微观应力。【2】测定应力一般用衍射仪法。 X射线法也有许多不足之处：测试设备费用昂贵；受穿透深度所限，只能无破坏地测表面应力，若测深层应力，也需破坏试样；当被测工件不能给出明确的 衍射线时，测量精确度不高。能给出明确衍射峰的试样，其测量误差约为±2×107Pa(±2kgf/mm2)；1.1.3 点阵常数的精确测定 X射线衍射线的位置（θ）的测定而获得的，通过