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内工大测试技术2012测试新思路(第四章力+调理电路)研讨.ppt

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内工大测试技术2012测试新思路(第四章力调理电路)研讨

第四章 力参量的测量 (含信号的调理) 各种传感器输出的(电)信号在准确读取结果前会遇到传输、放大、滤波等问题。 测量中常遇到以下问题: 传感器输出的电量信号不易传输; 传感器输出的电量信号为缓变的微弱信号,无法直接推动仪表指示; 传感器输出的信号含有大量的干扰和噪声; 本章以动态电阻应变仪为例,结合力参量的测试介绍以上问题的解决方法。 力是物体之间的相互作用,各种机械运动都是力或力矩传递的结果,因此力参量是机械工程中最常见的基础被测参量之一。 在研究机器零件的刚度、强度、设备的力能关系以及工艺参数时都要进行应力应变的测量。 力参量测量方法 机械测力法 光学测力法 电测法 电阻应变式电测法,其测量系统主要由电阻应变式力传感器、测量电路、显示与记录仪器或计算机等设备组成。 §4-1 电阻应变式力传感器(P38) 电阻应变式力传感器具有悠久的历史,是应用最广泛的传感器之一。 应变式电测技术的优点: 非线性小,电阻的变化同应变成线性关系; 应变片尺寸小(我国的应变片栅长最小达0.178mm),重量轻(一般为0.1~0.2g),惯性小,频率响应好,可测0~500kHz的动态应变; ③测量范围广,一般测量范围为10~10-4量级的微应变; 测量精度高,动态测试精度达1%,静态测试精度可达0.1%; 可在各种复杂或恶劣的环境中进行测量。 基本元件电阻应变片可分为金属电阻应变片和半导体应变片两类,是一种将应变转换成电阻变化的变换元件。 应变片不仅能测应变,而且对能转化为应变变化的物理量,如力、扭矩、压强、位移、温度、加速度等,都可利用应变片进行测量,所以它在测试中应用非常广泛。 2、箔式应变片 金属箔式应变片则是用栅状金属箔片代替栅状金属丝。金属箔栅系用光刻技术制造,适于大批量生产。其线条均匀,尺寸准确,阻值一致性好。箔片厚约1—10μm,散热好,粘结情况好, 传递试件应变性能好。 因此目前使用的多系金属箔式应变片。 三、半导体应变片 半导体应变片最简单的典型结构如图所示。 半导体应变片的使用方法与金属电阻应变片相同,即粘贴在弹性元件或被测物体上,其电阻值随被测试件的应 变而变化。 半导体应变片的工作原理是基于 半导体材料的压阻效应。 所谓压阻效应是指单晶半导体材料在沿某一轴向受到外力作用时,其电阻率ρ发生变化的现象。 优点:灵敏度高; 缺点:稳定性差,非线性严重。 做一批应变片,各不相同; 同一批应变片在不同条件下,变化很大。 柱式力传感器(压力测量) 接桥 :全桥 输出 : 应用 :台秤 (电子秤) 4-2 动态电阻应变仪 电阻应变片的电阻变化很小,进行传输和记录都存在许多不便之处,因此需要对应变片的输出信号进行转换调理,用于完成这一任务的仪器称应变仪。 分类: 按被测应变的变化频率及相应的电阻应变仪的工作频率范围可分为: 静态应变仪:应变信号变化十分缓慢或变化一次后相对稳定 ; 动态应变仪:测量的工作频率可达0~2000Hz,个别可达10kHz; 超动态应变仪:工作频率高于10kHz的应变仪称超动态应变仪 。 按放大器工作原理可分为直流放大和交流放大两类。 动态电阻应变仪的工作原理 测量物体在应力作用下发生变化的仪器。应变仪广泛应用于材料的力学性能检测中,例如测定材料拉伸模量,就是用所加负荷和同时由贴在试件表面的应变片测出的应变值经计算而得。 广州章和电气—机箱式应力信号采集仪 4-2-1 测量电桥 电桥是将电阻R、电感L、电容C 等电参数变为电压Δu 或电流Δi信号后输出的一种测量电路。 按激励电压分:供桥电源电压是直流电压时,称直流电桥;供桥电源电压为交流电压时,称交流电桥。 一、直流电桥 (惠斯登电桥) (一)直流电桥的平衡条件 (二)、电桥的输出 1、半桥单臂 以桥臂电阻R1作为工作臂,如图4-1。 设R2=R3=R4=R,R1=R+ΔR,其中R为一常数,则输出电压 2、半桥双臂 两个邻边桥臂有相同的微电阻变化,如电阻R1有变化R+ΔR,R2有变化R-ΔR,可导出公式: 3、全桥 四个桥臂均有相同的微电阻变化,且电阻变化以差动方式增大或减小,满足以下关系: R1=R2=R3=R4=R

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