11.1原子发射光谱法精编.ppt

第十一章 原子光谱分析法 11.1.1 原子发射光谱分析的基本原理 11.1.2 原子发射光谱仪器类型与结构 11.1.3 原子发射光谱分析的应用 概述： AES、AAS、AFS 原子发射光谱分析法的特点: 11.1.1 原子发射光谱分析的基本原理1.元素的特征谱线 原子的共振线与离子的电离线 Na 能级图 K 元素的能级图 Mg 元素的能级图 2.谱线强度 数学关系： 影响谱线强度的因素： 3.谱线的自吸与自蚀 self-absorption and self -reversal 11.1.2 仪器类型与流程 光路图 1. 光源 （1）直流电弧 特点： （2） 低压交流电弧 （3）高压火花 （4）激光微探针 （5）等离子体焰炬 工作原理： 光源特性对比表 ICP的突出特点： 2. 分光系统 （2）凹面光栅分光系统 （3）中阶梯平面反射光栅的分光系统 3. 进样系统 4. 检测器 检测器 光谱级-波长 二维光谱 5. 仪器主要类型 （2） 全谱直读等离子体光谱仪 仪器特点: 11.1.3 原子发射光谱分析的应用 3. 光谱定量分析 (2) 光谱定量分析 内标法基本关系式: 内标元素与分析线对的选择： 标准加入法 应用: 内容选择 中阶梯光栅与棱镜结合使用，形成了二维光谱，配合阵列检测器，可实现多元素的同时测定，且结构紧凑，已出现在新一代原子发射光谱仪中。 电弧、电火花及激光为光源的发射光谱仪器：主要分析固体试样。试样放在电极中。 ICP光源：将试样制备成溶液后进样。 溶液进样装置：图 雾化、蒸发、原子化。 光电倍增管和阵列检测器两类 。 （1）光电直读等离子体发射光谱仪 利用光电法直接获得光谱线的强度。 两种类型：多道固定狭缝式和单道扫描式。 采用CID或CCD阵列检测器，可同时检测165～800nm波长范围内出现的全部谱线。 多采用中阶梯光栅加棱镜分光系统。28×28 mm CCD芯片上，可排列26万个感光点点阵，具有同时检测几千条谱线的能力。 (1) 测定每个元素可同时选用多条谱线。 (2) 可在一分钟内完成70个元素的定量测定。 (3) 可在一分钟内完成对未知样品中多达70多元素的定性。 (4) 1mL的样品可检测所有可分析元素。 (5) 扣除基体光谱干扰。 (6) 全自动操作。 (7) 分析精度：CV 0.5%。 1. 元素的分析线、最后线、灵敏线 分析线：复杂元素的谱线可能多至数千条，只选择其中几条特征谱线检验，称其为分析线； 最后线：浓度减小，谱线强度减小，最后消失的谱线； 灵敏线：最易激发的能级所产生的谱线，每种元素有一条或几条谱线最强的线，即灵敏线。最后线也是最灵敏线； 共振线：由第一激发态回到基态所产生的谱线；通常也是最灵敏线、最后线。 2. 定性方法 标准光谱比较法： 以铁谱作为标准(波长标尺)。为什么选铁谱？ 为什么选铁谱？ （1）谱线多：在210～660nm范围内有数千条谱线。 （2）谱线间距离分配均匀：容易对比，适用面广。 （3）定位准确：准确测量了铁谱每一条谱线波长。 标准谱图：将其他元素的分析线标记在铁谱上，铁谱起到标尺的作用。 谱线检查：将试样与纯铁在完全相同条件下摄谱，放大20倍，检查待测元素的分析线是否存在，并与标准谱图对比确定。可同时进行多元素测定。 (1) 光谱半定量分析 与目视比色法相似，测量大致浓度范围。 应用：用于钢材、合金等的分类、矿石品位分级等大批量试样的快速测定。 谱线强度比较法：测定试样中待测元素光谱，选择灵敏线，比较标准谱图与试样谱图中灵敏线的黑度，确定含量范围。 发射光谱定量分析的基本关系式 在条件一定时，谱线强度I 与待测元素含量c关系为： I = a c 发射光谱分析的基本关系式，称为塞伯-罗马金公式（经验式）。自吸常数 b 随浓度c增加而减小，当浓度很小，自吸消失时，b=1。 在被测元素的光谱中选一条作为分析线(强度 I )，再选择内标物的一条谱线(强度I0) 组成分析线对。则： 相对强度 R： A为其他三项合并后的常数项。 a. 内标元素可选择基体元素，或另外加入，含量固定。 b. 内标元素与待测元素具有相近的蒸发特性。 c. 分析线对应匹配，同为原子线或离子线，且激发电位相近(谱线靠近)，“匀称线对”。 d. 强度相差不大，无相邻谱线干扰，无自吸或自吸小。 第一节 原子发射光谱分析法 Atomic spectrometry Atomic emission spectrometry,