双电桥测低电阻性——余浩12071186论述.docxVIP

北京航空航天大学报告 双电桥测低电阻研究性实验报告 PAGE \* Arabic \* MERGEFORMAT19 / NUMPAGES \* Arabic \* MERGEFORMAT19 物理研究性实验报告 ——1042双电桥测低电阻 院 系： 机械工程及其自动化 第一作者： 余 浩 学号第二作者 沈 豪 学号2013年 12 月 13 日 目录  TOC \o 1-3 \h \z \u  HYPERLINK \l _Toc343297711 摘要  PAGEREF _Toc343297711 \h 3  HYPERLINK \l _Toc343297713 一、实验目的  PAGEREF _Toc343297713 \h 3  HYPERLINK \l _Toc343297714 二、实验原理  PAGEREF _Toc343297714 \h 3  HYPERLINK \l _Toc343297715 三、仪器设备  PAGEREF _Toc343297715 \h 6  HYPERLINK \l _Toc343297716 四、实验内容  PAGEREF _Toc343297716 \h 6  HYPERLINK \l _Toc343297717 五、数据处理  PAGEREF _Toc343297717 \h 7  HYPERLINK \l _Toc343297718 1、原始数据记录  PAGEREF _Toc343297718 \h 7  HYPERLINK \l _Toc343297719 2、对数据进行线性回归处理  PAGEREF _Toc343297719 \h 8  HYPERLINK \l _Toc343297720 3不确定度的计算  PAGEREF _Toc343297720 \h 10  HYPERLINK \l _Toc343297721 六、误差分析  PAGEREF _Toc343297721 \h 10  HYPERLINK \l _Toc343297722 （1）铜杆有效接入长度的测量误差所引起的实验误差  PAGEREF _Toc343297722 \h 11  HYPERLINK \l _Toc343297723 （2）两端的接触电压和附加电阻所引起的误差。  PAGEREF _Toc343297723 \h 11  HYPERLINK \l _Toc343297724 （3）开尔文电桥消除附加电阻对测量结果影响  PAGEREF _Toc343297724 \h 12  HYPERLINK \l _Toc343297725 （4）由电桥灵敏度引起的误差  PAGEREF _Toc343297725 \h 13  HYPERLINK \l _Toc343297726 八、实验经验教训及注意事项  PAGEREF _Toc343297726 \h 15  HYPERLINK \l _Toc343297727 （1）实验???程中注意事项  PAGEREF _Toc343297727 \h 15  HYPERLINK \l _Toc343297728 故障分析  PAGEREF _Toc343297728 \h 15  HYPERLINK \l _Toc343297729 九、实验改进  PAGEREF _Toc343297729 \h 16  HYPERLINK \l _Toc343297730 1、测量方法的改进  PAGEREF _Toc343297730 \h 16  HYPERLINK \l _Toc343297731 2、通过提高双电桥灵敏度减小实验误差  PAGEREF _Toc343297731 \h 16 3、通过改变承载导体的结构减小实验误差 17  HYPERLINK \l _Toc343297733 十、感想与收获  PAGEREF _Toc343297733 \h 17  HYPERLINK \l _Toc343297734 参考文献 18  2通过提高双电桥灵敏度减小实验误差 摘要 本文以“双电桥测低电阻”实验为基础，通过与惠斯通单电桥的对比，详细介绍了开尔文双电桥测量低电阻的原理以及特点，进行了更加严格的实验数据处理与不确定度的计算。根据实验数据分析了系统误差和随机误差