双电桥测低值电阻性实验论述.docx

双点桥测低电阻部分 摘要 电阻是电路的基本元件之一，电阻值的测量是基本的电学测量，不同大小的电阻阻值测量方法也有所不同，需要选择合适的电路，消除电路中导线电阻、漏电电阻、温度等的影响，才能把误差降到最小，保证测量精度。双电桥是在单电桥的基础上发展起来的，可以消除（或减少）附加电阻对测量结果的影响，一般用来测量10-5～10Ω之间的电阻。  实验原理 惠斯通电桥（单电桥）测量的电阻，其数值一般在10～106Ω之间，为中电阻。对于10Ω以下的电阻，例如变压器绕组的电阻、金属材料的电阻等，测量线路的附加电阻（导线电阻和端钮处的接触电阻的总和为10-4～10-2Ω）不能忽略，普通惠斯通电桥难以胜任。 如 REF _Ref310166286 \h 图1. 1所示，用单电桥测低电阻时，附加电阻R与R和RX是直接串联的，当R和R的大小与被测电阻RX大小相比不能被忽略时，用单电桥测电阻的公式RX=R3R1RN就不能准确地得出RX的值；再则，由于RX很小，如R1≈R3，电阻RN也应是小电阻，其附加电阻（图中未画出）的影响也不能忽略，这也是得不出RX准确值的原因。 开尔文电桥是惠斯通电桥的变形，在测量小阻值电阻时能给出相当高的准确度。它的电路原理见图1.2。其中R1、R2、R3、R4均为可调电阻，RX为被测低电阻，RN为低值标准电阻。与图1.1对比，开尔文电桥做了两点重要改进： ① 增加了一个由R2、R4组成的桥臂。 ② RN和RX由两端接法改为四端接法。其中P1P2构成被测低电阻RX，P3P4是标准低电阻RN，P1、P2、P3、P4常被称为电压接点，C1、C2、C3、C4称为电流接点。 图1.  SEQ 图1. \* ARABIC 1 单电桥附加电阻的影响 图1.  SEQ 图1. \* ARABIC 2 开尔文电桥原理图 在测量低电阻时，RN和RX都很小，所以与P1～P4、C1～C4相连的8个接点的附加电阻（引线电阻和端钮接触电阻之和）RP1～RP４RC1～RC4，RN和RX间的连线电阻RL，P1C1间的电阻RPC1，P2C2间的电阻RPC2，P3C3间的电阻RPC3，P4C4间的电阻RPC4，均应给予考虑。于是，开尔文电桥的等效电路如图1.3(a)所示。其中RP1远小于R3，RP2远小于R4，RP3远小于R2，RP4远小于R1，均可忽略。RC1、RPC1、RC4、RPC4可以并入电源内阻，不影响测量结果，也不予考虑。需要考虑的只有跨线电阻R=RC2+RPC2+RPC3+RC3+RL。简化后的电路如图1.3(b)所示。 (a)开尔文电桥的等效电路 (b)简化后的电路 图1.  SEQ 图1. \* ARABIC 3 调节R1、R2、R3、R4使电桥平衡。此时，Ig=0，I1=I3，I2=I4，I5=I6，VB=VD，且有I3R3=I4R4+I5RXI1R1=I1R2+I6RNI2R2+I4R4=(I5-I4)R三式联立求解得RX=R3R1RN+RR2R2+R4+RR3R1-R4R2表面看来只要保证 R3R1=R4R2，即可有RX=R3R1RN，附加电阻的影响就可以略去。然而绝对意义上的R3R1-R4R2=0实际上做不到，这时RX就可以看成R3R1RN与一个修正值Δ的叠加不难想见，再加上跨线电阻R≈0，就可以在测量精度允许的范围内忽略Δ的影响。 通过这样两点改进，开尔文电桥将RN和RX的接线电阻和接触电阻巧妙地转移到电源内阻和阻值很大的桥臂电阻中，又通过R3R1=R4R2和R≈0的设定，消除了附加电阻的影响，从而保证了测量低电阻时的准确度。 为保证双电桥的平衡条件，可以有两种设计方式： ① 选定两组桥臂之比为M=R3R1=R4R2,将RN做成可变的标准电阻，调节RN使电桥平衡，则计算RX的公式为RX=MRN。式中RN成为比较臂电阻，M为电桥倍率系数。 ② 选定RN为某固定阻值的标准电阻并选定R1=R2为某一值，联调R3与R4使电桥平衡，则计算RX的公式变换为RX=RNR1R3 或 RNR2R4 此时R3或R4为比较臂电阻，RNR1或RNR2为电桥倍率系数。实验室提供的QJ19型单双电桥采用的是第②种方式。 实验仪器 电阻箱、指针式检流计、固定电阻两个（标称值相同、但不知准确值）、直流稳压电源、滑线变阻器（48Ω、2.5A）、待测电阻、开关等、QJ19型单双电桥、FMA型电子检流计、换向开关、四端钮标准电阻（0.001Ω）待测低电阻（铜杆）数显卡尺等。 实验步骤 准备工作 检查实验仪器是否完备。 检查仪器是否完整，有无损坏。 将有开关的仪器均调