10-2光的干涉.ppt

§12-4 平行平板的双光束干涉;一、干涉条纹的定域 两个单色相干点光源在空间任意一点相遇，总有一确定的光程差，从而产生一定的强度分布，并都能观察到清晰的干涉条纹，这种干涉称为非定域干涉。 在扩展光源情况下，由光源上不同点源出发到达该点的产生双光束干涉的光程差不同，当光程差变化δΔλ/4的区域，条纹可见度下降，观察不到清晰的干涉条纹；而在 δΔλ/4的区域，尽管采用了扩展光源，仍可看到清晰的干涉条纹。能够得到清晰条纹的区域称为定域区（定域干涉）。 可见，定域干涉是和扩展光源的使用联系在一起，它本质上是一个空间相干性问题。;二、平行平板产生的等倾干涉;扩展光源上不同点S′发出的同倾角的光线，经平行平板分光后具有相同的光程差也到达P点，因此P处的不同组条纹没有位移，这样既保持了条纹很好的可见度，又因为使用扩展光源而增加了条纹的亮度。;倾角i相同的光线对应同一条干涉条纹 —等倾条纹。 其光程差越大，对应的条纹干涉级次越高，在中心处具有最高干涉级。 其角半径记为θ1N（条纹半径对透镜中心的张角）为：;三、楔形平板产生的等厚干涉 两个不平行平面的分振幅干涉，称为楔形平板的干涉。 （一）定域面及定域深度 楔形平板干涉条纹定域面的位置，也由;实际中扩展光源并非无穷大，即：;精确计算较困难，近似用平行平板的光程差公式来代替：;从以上亮纹或暗纹公式易导出，从一个条纹过渡到另一个条纹，平板的厚度变化为：;（适于平行光垂直入射）;三. 等厚条纹的应用; 测细小直径、厚度、微小变化;(1)检测待测平面的平整度;(2).测量微小物体的厚度;例如用波长为589.3nm的钠黄光垂直照射长 L=20mm 的空气劈尖，测得条纹间距为;(3). 测量微小角度.;(4) 测量微小位移;例 用等厚干涉法测细丝的直径d。取两块表面平整的玻璃板，左边棱迭合在一起，将待测细丝塞到右棱边间隙处，形成一空气劈尖。用波长?0的单色光垂直照射，得等厚干涉条纹，测得相邻明纹间距为?L，玻璃板长L0，求细丝的直径。;［例］在半导体器件生产中，为测定硅片上的Si02薄膜厚度，将薄膜一侧腐蚀成劈尖形状，如图。用钠黄光从??气中垂直照射到Si02表面上，在垂直方向上观察Si02劈尖膜的反射光干涉条纹，看到有七条暗纹，第七条恰位于N处，问薄膜的厚度？