Chapter 9 -XRD-2010.4.ppt

X-ray Diffraction;OUTLINE;Introduction to XRD;Introduction to XRD;Introduction to XRD;;X射线的历史 1895年，著名的德国物理学家伦琴发现了X射线； 1912年，德国物理学家劳厄等人发现了X射线在晶体中的衍射现象，确证了X射线是一种电磁波。 1913年，英国物理学家Bragg父子利用X射线衍射测定了NaCl晶体的结构，从此开创了X射线晶体结构分析的历史。;;;X射线的性质 X射线是一种电磁波，具有波粒二象性； X射线的波长： 10-2 ~ 102 ? X射线的 ? (?)、振动频峰 ? 和传播速度C (m·s-1)符合 ? = c / ?;;;Introduction to X Ray;X射线的产生及X射线谱; X射线管示意图;;X射线管;X射线的发射;Introduction to X Ray; K系标识X射线： 对于从L，M，N… 壳层中的电子跃入K壳层空位时所释放的X射线，分别称之为K? 、 K? 、 K?…谱线，共同构成K系标识X射线。 K? 、 K? 、 K?…谱线的强度依次降低，尽管K? 、 K? 、 K?…光子的能量依次减小，但是在K激发态下，L层电子向K层跃迁的几率远远大于M层向K层以及N层向K层跃迁的几率，即产生的K? 光子的数量最多。 K? 谱线强度越是K? 的5倍。; ;X射线与物质作用示意图; X射线的散射 相干散射：X射线的散射，当入射线与散射线波长相同时，位相差恒定，散射线之间能相互干涉，称为相干散射。 非相干散射：当散射线波长与人射线波长不同时，散射线之间不相干，则称之为非相干散射。也称为康普顿－吴有训散射即为非相干散射。;X射线衍射原理;X 射线衍射的条件 ;相邻晶面 “反射线”的光程差 δ= DB + BF 光程差为入射波长λ的整数倍，即 2d sinθ = nλ－－－布拉格方程 式中n为整数 ，d为晶面间距，λ为入射X射线波长，θ称为布拉格角（掠射角），又称半衍射角，实验中所测得的2θ角则称为衍射角 。 ;X射线衍射原理;X射线衍射原理;X射线衍射原理;X射线衍射分析方法;X射线衍射分析方法;非常小 0.1μm以下;X射线衍射分析方法;粉晶X射线物相分析;粉晶X射线物相分析;未知材料鉴定1）?晶态还是非晶态，非晶态衍射是漫散的“晕环”，晶 态为有确定d值的锐衍射峰； 2）?如果是晶态也可以初步判断一下是有机类还是无机类， 一般有机材料晶胞都比较大，衍射线条多在低衍射角 区出现，由于晶体对称性比较低，使衍射线条较少；; 3）高聚物材料一般是晶态和非晶态共存（两相模型）既 有非晶漫散射，也有锐衍射峰，强衍射峰总邻近非晶漫 散射极大强度处附近出现； ;X射线衍射分析方法;粉晶X射线物相分析;粉晶X射线物相分析;X射线物相定量分析 1. 物相定量分析基本原理 (1) 原理： 在多相物质中各向的衍射强度Ii随其含量xi的增加 而提高。 （2）测试灵敏度：优于1％。 （3）注意： 但由于各物相对X射线的吸收系数不同，所以衍射 强度并不严格地正比于各物相的含量，因而需对计 算结果进行校正。 ;2. 物相定量分析方法(1)内标法 定义 当试样中所含物相数大于2时，且各相的吸收系数不同，常采用在试样中加入某种标准物质来进行分析，此方法通常称为内标法。 ; 加入标样后待测相的百分含量  设样品有几个物相，质量分别为W1，W2，W3，… Wn，样品总质量 。试样中加入标准物相S，质量为WS。Xi为第i 相（待测相）的质量百分数，而Xi′为加入标样后的质量百分数，XS为标样的质量百分数。那么Xi′有：; 标准曲线的测定 通常采用配制一系列的标样，即用纯 i 相与掺入标准物质 S 配制成不同的重量分数的标样，用X射线衍射仪测定。已知不同 Xi 的 Ii/IS，作出标准曲线。 测试方法 在获得标准曲线的基础上，再进行未知试样中i相的测定。由未知试样中i相的衍射峰强度和标准物质S的比值，确定未知试样中i相和S的质量比，再利用前述公式求得i相的百分含量。 ;石英定量分析的标准曲线（以萤石为