光电测试技术-激光外差干涉精编.ppt

激光外差干涉测试技术;光电检测系统分类;直接检测的基本原理;激光外差干涉测试技术;光外差探测系统; 一、光外差探测原理 光外差探测与直接探测相比较有许多优点，在直接探测中由于光的振动频率高达2×1013~7.5×1014Hz，振动周期T为5×10-14 ~ 1.3×10 -15 s (可见光到中近红外)，而探测器响应时间最短10 -10 s, 它只能响应其平均能量或平均功率。;在直接探测中，设光波动的圆频率为ω， 振幅为A，则光波f(t)写成 ;fs为信号光波，fL为本机振荡(本振)光波，这两束平面平行的相干光，经过分光镜和可变光阑入射到探测器表面进行混频，形成相干光场。经探测器变换后,输出信号中包含 fc＝ fs –fL 的差频信号．故又称相干探测. ;，入射到探测器上的总光场为;设入射到探测器上的信号光场为： 本机振荡光场为： 入射到探测器上的总光场为： ; ； :　量子效率； 　:光子能量； 　: 差频。 式中第一、二项为余弦函数平方的平均值，等于1／2。 第三项（和频项）是余弦函数的平均值为零。而第四项（差频项）相对光频而言，频率要低得多。 当差频 低于光探测器的截止频率时，光探测器就有频率为 的光电流输出。 ;;激