物理应用:透镜涂层 增透膜 薄膜干涉最重要的一个应用: 对玻璃进行涂层使得玻璃“没有反射” 。 光入射到玻璃表面上时,约有4%的光被反射掉。高质量的照相机,显微镜和其他光学仪器上一般会有6到10块薄透镜,透镜表面反射光会降低光的亮度,多重反射更会产生背景模糊从而降低了成像质量。如果反射减少了,透射光就会增加。 在透镜表面加一薄层涂层就可以有效减少反射。这层薄膜的厚度是刻意挑选的,它可以使得这层薄膜上下表面的反射光(至少一种波长)产生相消干涉。 高反射膜 无半波损失 玻璃 空气 d 反射光干涉相消的条件 膜的最小厚度 透射光加强 多层高反射膜 H L ZnS MgF2 H L ZnS MgF2 在玻璃上交替镀上光学厚度均为?/4的高折射率ZnS膜和低折射率的MgF2膜,形成多层高反射膜。 膜厚条件 解题知识点:干涉 1、干涉效应 2、相长干涉: 同相,两列波振幅相互叠加形成更大振幅。 波程差相差一个完整波长或任意整数倍波长。 3、相消干涉: 反相,两列波振幅反相叠加形成更小振幅。 波程差相差一个半波长或任意整数倍半波长。 4、半波损失: 额外半个波长的相位偏移发生在入射光从折射率小的媒介垂直入射到折射率大的媒介。 例题34-8 无反射层 光垂直入射到折射率( )的玻璃上 ,为了消除波长在空气中约为 的反射光而采用折射率为 的 的涂层,求解 涂层的厚度是多少? MgF2 玻璃 n2 1.38 n1 1.50 n0 1 解题思路:直接按照上页解题知识点的概念和步骤进行解题。 1、干涉效应:考虑到两束光线在透镜涂层的上下表面都有反射,射光线将会发生干涉。 2、相长干涉:本题要消除反射,所以不考虑相长干涉。 3、相消干涉:为了消除反射,我们需要光线1和光线2相互的相位相差半个周期从而反相引起相消干涉。相位差由光线2经过的波程差决定。 4、半波损失:光线1和2分别从透镜涂层上下表面反射回来时,都经历了半个周期的相位改变(在两个表面上都是折射率变大)。因此,没有多余的相位偏移发生。 解: 净波程差完全取决于光线2在 涂层里多走的路程 净波程差 等于 ,对应于相消干涉,而光在涂层里的波长为 所以 即得 注:我们也可以令 ,由于要在最宽的角度内发生相消干涉,通常会选择最小的厚度。 注:只有在可见光特定的波长上才会有完全的相消干涉。比它更长和更短的波长上只会有部分消除。 例题 在玻璃表面镀上一层 MgF2 薄膜,使波长为λ 5500 ?的绿光全部通过。求:膜的厚度。 解一:使反射绿光干涉相消 由反射光干涉相消条件 取k 0 MgF2 玻璃 n2 1.38 n1 1.50 n0 1 δ 2 n2 e 2m+1 λ/2 996 ? n0 1 1 2 n1 n2 996? 解二: 使透射绿光干涉相长 由透射光干涉加强条件: 1 2 n2 n1 n0 1 取 m 0 问题:此时反射光呈什么颜色? 2n2e mλ λ1 2n2e 8250? 取 m 1 λ2 2n2e/2 4125? 取m 2 反射光呈现紫蓝色! 得 由 依据: 测表面不平度 测波长:已知θ、n,测L可得λ 测折射率:已知θ、λ,测L可得n 测细小直径、厚度、微小变化 Δh 待测块规 λ 标准块规 平晶 等厚条纹 待测工件 平晶 薄膜干涉的应用: 2)测膜厚 1)干涉膨胀仪 空气 3)检验光学元件表面的平整度 4)测细丝的直径 例题 利用空气劈尖的等厚干涉条纹可以检测工 件表面存在的极小的加工纹路, 在经过精密加工的工件表面上放一光学平面玻璃,使其间形成空气劈形膜,用单色光照射玻璃表面,并在显微镜下观察到干涉条纹, a b ?h b a ?h ek-1 ek 如图所示,试根据干涉条纹的弯曲方向,判断工件表面是凹的还是凸的;并证明凹凸深度可用下式求得 : 干涉条纹的移动 每一条纹对应劈尖内的一个厚度,当此厚度位置改变时,对应的条纹随之移动。 解:如果工件表面是精确的平面,等厚干涉条纹应该是等距离的平行直条纹,现在观察到的干涉条纹弯向空气膜的左端。因此,可判断工件表面是下凹的,如图所示。由图中相似直角三角形可: 所以: ?h b a ?h ek-1 ek a b 思考题: 条纹弯曲部分的顶点刚好和其右边条纹的直线部分相切 表面缺陷是凸还是凹? 凸 突起的最大高度为? 相邻明纹间的对应的厚度差 第二条明纹到第五条明纹之间相差 3 级 §34-6 迈克尔逊干涉仪 干涉仪测量精细长度: 计算通过参考线的干涉条纹数目,或相关的部分条纹 §34-7 发光强度 光通量:流明 发光强度:坎德拉 照度: 惠更斯原理 必做题 : 5,8,12,14,16, 26,27,31,33,36 媒介中
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