第三章 界面化学.pptVIP

4、ζ 电位和电泳淌度p46 （1） ζ 电位可测（ψ0不可测 ），用电泳仪可以测定电泳淌度μ ，从而计算双电层双电层电位ζ的近似值。 1）电解质溶液的电泳淌度p47，3-43式 2）电解质溶液ζ电位p47 ζ = 4πη μ/ ε r （克厘米秒制） ζ = η μ/ ε r ε0 （公斤米秒制） P47例3-1： 3）结论： μ 与ζ成正比 ζ 电位与聚沉的关系： a.|ζ|电位绝对值高，胶体体系稳定，不易聚沉。 b. |ζ|电位绝对值低，胶体体系不稳定，易聚沉。 c. ζ=0， μ=0 （胶粒没有双电扩散层），胶粒之间排斥力最小，最易聚沉。（通过调整添加的电解质浓度如：NaCl等。测定电泳淌度计算ζ，当ζ被调到零点时，胶粒最易聚沉） 5、溶液pH值对氧化物ζ电位的影响p48 1）金属氧化物表面电荷决定离子（是H+ OH-） 2）零电荷点PZC P48 pH ＞ PZC 时，氧化物带负电荷 pH ＜ PZC 时，氧化物带正电荷 3）等电点（IEP）：p48 a.若无特性吸附（无吸附层）的胶粒，等电点=零电荷点 Ψ0 = ζ = 0 b.有吸附层的胶粒， IEP不等于PZC，既ζ=0时， ψ0还有一定数值。 4)对于氧化物胶粒，符合Nernst方程 Ψ0=RT/F × lna H+ / a0 H+ Ψ0= 0.059(pH0 -pH) a H+ : 是H+ 的活度， a0 H+: 是零电荷点是H+ 的活度 当pH=pH0时 ，Ψ0=0，溶胶聚沉， |pH - pH0| 数据越大溶胶越稳定，不易聚沉。 胶粒表面带正电， Ψ0 ＞0 胶粒表面带负电， Ψ0 ＜ 0 总之Ψ0=0， ζ=0 溶胶易聚沉。 * * C0 值：只要少量表面活性剂，就可显著降低表面张力，使体系趋于稳定。C线转折点的浓度C0 为临界浓度，当表面活性剂浓度到C0 时，继续增加表面活性剂浓度，这时溶液表面张力下降很慢（变化不大），如果继续加大表面活性剂浓度很浪费。 例： 分子数目一样多，则前一部分中i组分的摩尔数比后一部分多了Г i 。 例如： （1） （2） （3）溶液的表面张力可以测定，从而可求Гi 1）配制不同浓度C溶液，测表面张力，作图。 2）计算某Ci值时计算某Ci值时，曲线斜率 dσ/dc = 斜率 3）Ci、 dσ/dc 带入吉布斯方程得到Гi公式， 求。Гi 4）用Гi-Ci作图。 例图： 从图看出，当浓度增加到一定数量如C0时，吸附量即趋于极限值。 a.表面活性剂浓度低时，为线段1， Г-C呈直线形状。 b.表面活性剂浓度适中时，为线段2， Г-C呈曲线形状。 c.表面活性剂浓度高时，为线段3， Г为常数，不随浓度变化，表明溶液界面吸附已达到饱和（如图，浓度为C0时， Г值已经最高） 3、吸附层的结构P30-31 （1）可溶于水的表面活性剂如：RCOOH、ROH、RNH2 。它们含极性基团和非极性基团，在水面上排列如图： （2）不溶于水的表面活性剂（只在水的表面有一层分子膜，水内部没有表面活性剂） a.不溶于水的液体表面活性剂： 例： b.不溶于水的固体表面活性剂： 例： 4、表面吸附层状态方程式p31 （1）∏= σ0- σ ∏:表面张力的降低值（或称表面膜的表面压力，二维空间压力，单位N/m或dyne/cm） σ0：纯液体（溶剂）表面张力 σ ： 覆盖着表面膜的表面张力 （2） ∏= Γ RT (表面层分子二维运动方程) 对于稀溶液（也称理想溶液）， Γ为单位表面溶质的摩尔量 （3） ∏/ ΓNA = KB T 形成单分子膜时， 1/ ΓNA 为每个成膜分子所占的面积，用A表示。 （4） ∏ A = KB T （4）和（2） 式意义相同，但求法不同（测定的物理量不同）， （4）式为稀溶液中液面吸附膜所遵循的状态方程，也称二维空间理想气体状态方程方程 * ∏有测试装置，通过控制∏可控制表面膜厚度，把表面膜转移到固体基板，如（5）B-T转移技术。 5、Langmuir-Blodgett（L-B）膜的特点及应用 （1）L-B膜p32 （2）L-B膜特点p32 1）、 2）、 3）、 （3） L-B分子膜制备工艺p32 1）、 2）、 3）、 4）、 例p33图3-14 L-B膜形成过程和结构 （4） L-B膜测试手段p33 （5） L-B膜技术应用p33 1）、制金属绝缘膜 2）、制光学材料 3）、制功能性材料 6、表面活性剂体相性质与临界浓度关系 （1）临界浓度：表面活性剂有一个重要性质是能显著地降低水的表面张力，溶液表面张力随表面活性剂浓度的增加而急剧下降，待浓度达到一定值后，表面张力几乎不再改变，且 σ-C关系有一个非常明显的转折