质谱仪的原理及结构试题.pptxVIP

3.质谱分析法的基本原理及结构 第四组：孟霄鹏 薄振兴 覃海华 杨劼劼 质谱分析法是在高真空系统中测定样品的分子离子及碎片离子质量，以确定样品相对分子质量及分子结构的方法。 化合物分子受到电子流冲击后，形成的带正电荷分子离子及碎片离子，按照其质量 m 和电荷 z 的比值 m/z（质荷比）大小依次排列而被记录下来的图谱，称为质谱。 质谱法的基本原理 质谱法的基本原理 在有机化合物结构分析的四大工具中，与核磁共振波谱、红外光谱和紫外－可见光谱比较，质谱分析法具有其突出的特点： 是唯一可以确定分子式的方法。 灵敏度高检出限最低可达10-14g。 根据不同种类有机化合物分子的断裂规律，质谱中的分子碎片离子峰提供了有关有机化合物结构的丰富的信息。 单聚焦磁质谱的工作原理 　　质谱法是将样品置于高真空中（＜10-3 Pa），并受到高速电子流或强电场等作用，失去外层电子而生成分子离子，或化学键断裂生成各种碎片离子，然后将分子离子和碎片离子引入到一个强的正电场中，使之加速，加速电位通常用到6~8kV，此时可认为各种带正电荷的离子都有近似相同的动能。 质谱法的基本原理 在质量分析（或分离）器中，各种离子就按照质核比m/z的大小顺序被分开。质谱仪的出射狭缝的位置是固定的，只有离子的运动半径R与质量分析器的半径Rs相等时，离子才能通过出射狭缝到达检测器。 一般采用固定加速电压V而连续改变磁场强度B（称为磁场扫描）的方法获得质谱。 质谱法的基本原理 质谱仪的结构 用来检测和记录待测物质的质谱，并以此进行相对分子（原子）质量、分子式以及组成测定和结构分析的仪器称为质谱仪。 按质量分析器的不同分为： 单聚焦质谱仪 双聚集质谱仪 四极滤质器质谱仪 离子阱质谱仪 飞行时间质谱仪 按进样状态不同分为： 气相色谱－质谱联用仪(GC-MS) 液相色谱－质谱联用仪(LC-MS) 毛细管电泳－质谱联用仪(CE-MS) 高频电感耦合等离子体－质谱联用仪 (ICP-MS) 进样系统 离子源 质量分析器 检测器 1.气体扩散 2.直接进样 3.色谱进样 1.电子轰击 2.化学电离 3.场致电离 4.场解析 5.快原子轰击 1.单聚焦 2.双聚焦 3.四级杆 4.离子肼 5.飞行时间 1.电子倍增器 2.闪烁检测器 3.法拉第杯 4.照相检测 质谱仪一般由进样系统、离子源、质量分析器、检测器和记录系统等组成，还包括真空系统和自动控制数据处理等辅助设备。 质谱仪的结构 一、进样系统 作用：将待测物质（即试样）送进离子源。 进样方式： 直接进样 通过直接进样杆，将纯样或混合样直接进到离子源内或经注射器由毛细管直接注入。　 间接进样 经GC或HPLC分离后进到质谱的离子源内。 质谱仪的结构 离子源的作用是将被分析的样品分子电离成带电的离子，并使这些离子在离子光学系统的作用下，会聚成有一定几何形状和一定能量的离子束，然后进入质量分析器被分离。 常见的离子源有以下几种： 电子轰击电离源（EI） 化学电离源（CI） 场致电离源（FI） 场解析电离源（FD） 快原子轰击电离源（FAB） 激光解析电离源（LD） 电喷雾电离源（ESI） 二、离子源或电离室 1. 电子电离源（EI） 原理： 用电加热铼或钨丝至2000℃，产生10～70eV的高速电子束，与进入电离室的试样分子发生碰撞，若电子的能量大于试样分子的电离电位，将导致试样分子的电离。试样分子M失去一个电子形成的M+称为分子离子。所需能量为15～20eV。 当具有更高能量（如70eV ）的电子轰击有机化合物分子时，就会使分子中的化学键断裂，生成各种低质量数的碎片离子和中性自由基。 加速 聚焦 加速 2. 化学电离源（CI） 样品分子在承受电子轰击前，被一种反应气体(通常是甲烷)稀释，稀释比例约为104:1，因此样品分子与电子的碰撞几率极小，所生成的样品分子离子主要经过离子-分子反应组成。 应用强电场诱导样品电离： (电压：7～10kV，d1mm) 过程：样品蒸汽邻近或接触带高的正电位的阳极尖端时,由于高曲率半径的尖端处产生很强的电位梯度,使样品分子电离. 3. 场致电离源（FI） 过 程：样品溶液涂于发射器表面—强电场—分子电离—奔向阴极—引入磁场 特 点：特别适于非挥发性且分子量高达10,0000的分子。样品只产生分子离子峰和准分子离子峰，谱图最为简单。 4. 场解析电离源（FD） 5. 快原子轰击电离源（FAB） 过 程：稀有气体（如氙或氩电离）通过电场加速获得高动能——快原子——快速运动的原子撞击涂有样品的金属板——金属板上的样品分子电离——