平坦化工艺2.pptVIP

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  • 2016-08-15 发布于广东
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平坦化工艺2

平坦化工艺 李传第 周天亮 陈建 邓应达 概要: 简单的说就是在晶片的表面保持平整平坦的工艺 随着半导体工业飞速发展,电子器件尺寸缩小,要求晶片表面可接受的分辨率的平整度达到纳米级 。传统的平面化技术,如选择淀积、旋转玻璃法等,仅仅能够局部平面化技术,但是对于微小尺寸特征的电子器件,必须进行全局平面化以满足上述要求。90年代兴起的新型化学机械抛光技术则从加工性能和速度上同时满足了硅片图形加工的要求,是目前几乎唯一的可以提供全局平面化的技术。 一 传统的平坦化技术 反刻 玻璃回流 旋涂膜层 1.1反 刻 概念:由表面图形形成的表面起伏可以用一层厚的介质或其它材料作为平坦化的牺牲层来进行平坦化,这一层牺牲材料填充空洞和表面的低处,然后用干法刻蚀技术来刻蚀这一层牺牲层,通过用比低处图形快的刻蚀速率刻蚀掉高处的图形来使表面平坦化。 反刻不能实现全局的平坦化。 反刻平坦化 1.2玻璃回流 玻璃回流是在升高温度的情况下给惨杂氧化硅加热,使它发生流动。例如,硼磷硅玻璃(BPSG)在850°,氮气环境的高温炉中退火30分钟发生流动,使BPSG在台阶覆盖出的流动角度大约在20度左右, BPSG的这种流动性能用来

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