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Um：物质的质量吸收线密度，指单位质量某物质在单位值长度上对X射线的吸收。 XRF: X射线荧光光谱 TEM 透射电子显微镜，是以波长比极短的电子束作为照明源，用电磁透射聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。 球差 是由电磁透镜中近轴区域对电子束的折射能力与远轴区域不同而产生的。 衍射衬度象 ：晶体试样各部分满足布拉格反射条件不同和结构振幅的差异形成的衬度象。 2、步进扫描 又称阶梯扫描，将计数器在某些位置停下，在足够长的时间内进行定时计数测定后使此转过一个适当小的角度，再进行下次测量。 6、色差 由于成像电子波长（能量）变化引起电磁透镜焦距变化而产生的一种像差。处理方法：尽可能减小样品的厚度，以利于提高分辨率。 9、热分析 利用物质在温度变化过程中发生一系列物质变化显现的一系列热效应，质量变化，体积变化，与宏观表现，分析判断测试样中的物样组成、所含杂质，了解试样的热变化特性的一种方法。 三、判断题 1. 滤波片的K吸收限Kα和Kβ。（ ×） 2. 满足布拉格方程时，各晶面的散射线相互干涉加强形成衍射线√） 3. 当物平面与物镜后焦平面重合时，可看到形貌像×） 4. 原子序数Z越大的原子，其对入射电子的散射的弹性散射部分越小×） 5. TG曲线上基本不变的部分叫基线√） 6.有λ0的X射线光子的能量最大。（√） 7.衍射指数可以表示方位相同但晶面间距√） 8.调节中间镜的焦距，使其物平面与物镜的平面重合，叫衍射方式操作×） 9.原子序数Z越大的原子，其对入射电子的散射的弹性散射部分越小×） 10.蒙脱石脱层间水后，晶格破坏，晶×） 1、当高速电子的能量全部转换为x射线光子能量时产生λ0，此时强度最大，能量最高。（×） 2、弦中点法是按衍射峰的若干弦的中点连线进行外推，与衍射峰曲线相交的点。（×） 3、减弱中间镜的电流，增大其物距，使其物平面与物镜的后焦平面重合，叫衍射方式操作。（√） 4、SEM一般是采用二次电子成像，这种工作方式叫发射方式。（√） 5、基线是ΔΤ 0的直线。（×） 连续X射谱中，随V增大，短波极限值增大。（×） 凡是符合布拉格方程的晶面族都能产生衍射线。（×） 色差是由于能量非单一性引起的。（√） 当中间镜的物平面与物镜背焦平面重合时，可看到形貌像。（×） 非晶质体重结晶时DTA曲线上产生放热峰。（√） 1.有λ0的X射线光子的能量最大。（×） 2.衍射指数可以表示方位相同但晶面间距×） 3.调节中间镜的焦距，使其物平面与物镜的平面重合，叫衍射方式操作×） 4.原子序数Z越大的原子，其对入射电子的散射的弹性散射部分越小×） 5.蒙脱石脱层间水后，晶格破坏，晶√） 四、问答题 简述特征X射线产生的机理？ 二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处？ μm的高分散的材料，也同样能在温度变化过程中显示出固有的物化性能变化；（2）无论式样是否是晶体，只要在温度变化过程中有物化反应发生，就可以用此法进行研究。举例如下（1）研究无机非金属材料工业中所用原料，尤其是天然原料在加热时的变化特性，了解原料的主矿成分，进行主矿原料的定量分析；（2）研究矿化剂的效能；（3）研究固相反应机理； 4 确定物质熔融和结晶温度（5）根据试样是热效应特点，为改进工艺，改良配方、克服产品缺陷提供重要的参考资料（6）研究与制定烧成制度与烧成曲线。 什么是莫赛莱定律，莫赛莱定律的物理意义是什么？特征X射线谱与连续谱的发射机制主要区别？透射电镜中经投影的二次复型样品怎样形貌像？该像是如何的？l为奇 F2hk f2[1+ -1 ]2+0 0，系统消光 当h+k+l为偶 F2hk f2[1+ 1 ]2+0 4f2，衍射加强3TEM萃取复型样品的散射衬度像形成原理是什么？ 答：萃取复型样品中，除变形材料外，还含有一些物相颗粒，这些物相颗粒的存在使复形型样品不同位置对电子散射能力有所不同，同时样品各处厚度不同，其电子散射能力不同，从而在显示装置上呈现明暗不同的衬度来。 有金的多晶样品（面心立方结构，a 4.07?）的电子衍射花样，量得R1、R2、R3值分别为8.8、10.3、14.3 mm ，请列表计算有效相机常数K值。 答：（如最下表） K k1+k2+k3/3 20.739 mma 如何利用综合热分析曲线制定陶瓷的烧成制度？ 答：⑴利用差热曲线分析陶瓷原料烧成的热效应，分析确定失水温度、析晶温度等，从而确定烧成制度的预热烧成制度。⑵由升温速率及差热曲线，推算各过程所用时间 ⑶对胚体和烧成体分别做热膨胀分析，测定热膨胀系数，以确定烧成制度的升温，冷却速率。 简述多晶试样X衍射定性分析的步骤。 答：1、制备待测样品通过一定实验方法获得试样的X射线衍射花样。 2、由衍射花样计算各衍射线对应面网的d值和