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威宇科技有限公司 Measurement Systems Analysis測 量 系 統 分 析 高級工程師：蔡小勝 量规仪器的分类 一般分为物理量和电量两类。 按其是否与品质判定及制程监控有关可分为： 标准件或参考物质；检验用量规仪器（量测设备）；试验仪器；监控仪器；感测器；生产用量规仪器；辅助用量规仪器；测试硬件；测试软件。 标准件：用来比对的量规仪器。 检测设备：用来检测的仪器。 检测设备之管制 购买——验收——编号——保管 购买检测设备必需满足适用性和耐用性。 适用性是指设备精度符合测量要求精度的1/3~1/10。 量规仪器校准的方法 1．绝对法——以自然现象作标准校准； 2．直读法——待校件，标准件； 3．比较法——标准件，待校件，比较件； 4．比对法——利用标准品标出被校件与其之间的关系。 量规仪器的标识 1．限用证——限定在某个范围内使用； 2．合格证——所有功能都能使用； 3．停用证——禁止使用，不合格 4．参考使用——与品质无关； 5．报废 测量系统的PDCA P——校验计划，仪器失效校准计划 D——实施校验，校准 C——日常点检保养，校验结果确认 A——修理，调校，重新校验 内校：在仪器同种数量较多的情况下进行。内校必备条件：内校室（有温湿度控制），有资历的校验人员。 国际基本单位 量规仪器误差的分类 量规仪器误差的分类 误差 误差：所有测量结果都存在一定的误差。 绝对误差=测量值-真值（一般用近似值替代） 引用误差（相对误差）=绝对误差/标称值 真值的计算方法 A多次测量的平均值，B用精度更高的量规仪器测量值，C用标称值。 误差位与测量尾数一致。 近似值取舍规则 四舍六入五考虑，五后有数则进一；五后为零看奇偶，偶数舍去奇进一；不得做连续修约。 测量系统所应具有之统计特性 v 测量系统必须处于统计控制中，这意味着测量系统中的变差只能是由于普通原因而不是由于特殊原因造成的。这可称为统计稳定性 。 v 测量系统的变差必须比制造过程的变差小 。 v 变差应小于公差带 。 v 测量精度应高于过程变差和公差带两者中精度较高者，一般来说，测量精度是过程变差和公差带两者中精度较高者的十分之一 。 v 测量系统统计特性可能随被测项目的改变而变化。若真的如此，则测量系统的最大的变差应小于过程变差和公差带两者中的较小者 。 标 准 v 国家标准 v 第一级标准(连接国家标准和私人公司、科研机构等) v 第二级标准(从第一级标准传递到第二级标准) v 工作标准(从第二级标准传递到工作标准) 测量系统的评定 v 测量系统的评定通常分为两个阶段，称为第一阶段和第二阶段 v 第一阶段：明白该测量过程并确定该测量系统是否满足我们的需要。第一阶段试验主要有二个目的 ： v 确定该测量系统是否具有所需要的统计特性，此项必须在使用前进行 。 v 发现哪种环境因素对测量系统有显着的影响，例如温度、湿度等，以决定其使用之空间及环境 。 v 第二阶段的评定 v 目的是在验证一个测量系统一旦被认为是可行的，应持续具有恰当的统计特性 。 v 常见的就是“量具RR”是其中的一种型式 。 各 项 定 义 v 量具: 任何用来获得测量结果的装置，包括用来测量合格/不合格的装置 。 v 测量系统：用来获得表示产品或过程特性的数值的系统，称之为测量系统。测量系统是与测量结果有关的仪器、设备、软件、程序、操作人员、环境的集合。 v 量具重复性：指同一个评价人，采用同一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值（数据）的变差。 各 项 定 义 v 量具再现性：指由不同的评价人，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。 v 稳定性：指测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量值总变差。 v 偏倚:指同一操作人员使用相同量具，测量同一零件之相同特性多次数所得平均值与采用更精密仪器测量同一零件之相同特性所得之平均值之差，即测量结果的观测平均值与基准值的差值，也就是我们通常所称的“准确度” v 线性：指测量系统在预期的工作范围内偏倚的变化。 分 析 时 机 v 新生产之产品PV有不同时 v 新仪器，EV有不同时 v 新操作人员，AV有不同时 v 易损耗之仪器必须注意其分析频率 。 RR 之 分 析 v 决定研究主要变差形态的对象 . v 使用「全距及平均数」或「变差数分析」方法对量具进行分析 . v 于制程中随机抽取被测定材料需属统一制程 . v 选3位操作员在不知情的状况下使用校验合格的量具分别对10个零件进行测量, 测试人员将操作员所读数据进行记录, 研究其重复性及再现性(作业员