光电子学 (第五章3).ppt

无光照，影响因素：PN结内热激发，宇宙射线或放射性元素辐照产生载流子，内出现随机电荷流动，起伏暗I产生过程统计性引起，噪声干扰。噪声电荷随机变引起——散粒噪声。 I大，泊松?高斯分布，噪声I均方值： ID暗I 暗I大，噪声大。 漏I 噪声，器件表面不完善（缺陷及污染）引起 暗I噪声I 光量子噪声I 泊松分布 高斯分布 §5-1物质中的光吸收 §5-2光探测的基本物理效应 §5-3光辐射探测过程中的噪声 §5-4光辐射的探测方法 1. 光电子噪声电流（量子噪声） 2.. 暗电流与漏电流 3. 倍增燥声 　 4. 产生—复合噪声 一、噪声的来源 二·、噪声的主要特征 三、几种主要的噪声电流 四、描述噪声作用的几个参量 5. 1/? 噪声 6. 热噪声 有I内增益光电探测器件（雪崩光电二级管），量子燥声和暗I噪声除按倍增效益放大，附加起伏。 每光生载流子不同倍增效益，倍增后光I比倍增前大随机起伏。 倍增增益G平均效应——平均倍增因子。 倍增因子随t波动，探测器附加噪声源。 暗I 噪声I 光量子噪声I §5-1物质中的光吸收 §5-2光探测的基本物理效应 §5-3光辐射探测过程中的噪声 §5-4光辐射的探测方法 1. 光电子噪声电流（量子噪声） 2.. 暗电流与漏电流 3. 倍增燥声 　 4. 产生—复合噪声 一、噪声的来源 二·、噪声的主要特征 三、几种主要的噪声电流 四、描述噪声作用的几个参量 5. 1/? 噪声 6. 热噪声 F(G)过剩噪声因子。内增益器件，噪声不简单放大G2倍更大。 F(G)为Gx，x过剩噪声指数，0.3-1，倍增，量子噪声与暗I 噪声： 器件体I 受F(G)影响，表面，缺陷，污染表面漏I 不被放大，器件漏I 噪声略。 随机增益g统计平均值　=平均雪崩增益G，　　 ， 但　　　　　 ，差一因子。量子噪声和暗I 噪声： 　 光量子噪声I 暗I 噪声, 噪声I 均方值 光量子噪声I 暗I噪声I 考虑倍应，量子噪声与暗I 噪声 §5-1物质中的光吸收 §5-2光探测的基本物理效应 §5-3光辐射探测过程中的噪声 §5-4光辐射的探测方法 1. 光电子噪声电流（量子噪声） 2.. 暗电流与漏电流 3. 倍增燥声 　 4. 产生—复合噪声 一、噪声的来源 二·、噪声的主要特征 三、几种主要的噪声电流 四、描述噪声作用的几个参量 5. 1/? 噪声 6. 热噪声 半导体作探测器，载流子产生与复合随机引载流子浓度波动。起伏空穴、电子运动过程出现，属——散粒噪声。 强调载流子产生与复合，“产生—— 复合噪声”（g-r 噪声）； 光子激发生成载流子，运动中随机遇异号载流子复合，寿命?，? 内载流子产生I： v 载流子平均漂移速度；l 光电导体长度；e 电子电荷。 载流子产生I §5-1物质中的光吸收 §5-2光探测的基本物理效应 §5-3光辐射探测过程中的噪声 §5-4光辐射的探测方法 1. 光电子噪声电流（量子噪声） 2.. 暗电流与漏电流 3. 倍增燥声 　 4. 产生—复合噪声 一、噪声的来源 二·、噪声的主要特征 三、几种主要的噪声电流 四、描述噪声作用的几个参量 5. 1/? 噪声 6. 热噪声 (5-3-28)傅里叶变换，频谱分布 平方，得 载流子产生I 频谱分布 频谱分布 §5-1物质中的光吸收 §5-2光探测的基本物理效应 §5-3光辐射探测过程中的噪声 §5-4光辐射的探测方法 1. 光电子噪声电流（量子噪声） 2.. 暗电流与漏电流 3. 倍增燥声 　 4. 产生—复合噪声 一、噪声的来源 二、噪声的主要特征 三、几种主要的噪声电流 四、描述噪声作用的几个参量 5. 1/? 噪声 6. 热噪声 载流子平均寿命?0，复合概率 ，? 统计平均： (5-3-15)得功率密度 噪声功率谱密度 ?=2?? 功率密度 功率密度 平均光I 光电导增益 §5-1物质中的光吸收 §5-2光探测的基本物理效应 §5-3光辐射探测过程中的噪声 §5-4光辐射的探测方法 1. 光电子噪声电流（量子噪声） 2.. 暗电流与漏电流