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集成门电路的功能测试
实 验 报 告
课程名称： 实验项目名称：集成门电路的功能测试 专业： 报告人： 学号： 班级： 实验时间： 天津城市建设学院
控制与机械工程学院
一 实验目的：
1.了解TTL与非门主要参数的含义。掌握TTL门电路逻辑功能的测试方法。
熟悉组合逻辑电路分析的步骤。
加深对全加器、加法器电路的理解，并学会灵活运用这些电路。
74LS00、74LS32、74LS8674LS00、74LS32、74LS86TTL门电路逻辑功能的测试
1 在与非门 74LS00 、或门 74LS32 及异或门 74LS86 每块芯片中，任选一个门按真值表逐项验证逻辑功能，测试结果填入表1中。表1 门电路逻辑功能测试
输出
输入
74LS00
74LS32
74LS86
A B
Y1
Y2
Y3
电压 V
0 0
0 1
1 0
1 1
2 观察与非门对脉冲的控制作用：在实验板上选用74LS00的任一与非门，用连续脉冲信号作为与非门的一个输入变量，用示波器观察当另一个输入端接高电平和接低电平时，电路的输出波形。A
B
输出波形
连续脉冲
0
1
2.用74LS00、74LS32、74LS86Ai
Bi
Ci-1
Si
Ci
0
0
0
1
1
0
1
1
五 实验思考题：
1.半加器与全加器的差别与应用场合。
2.按照组合逻辑电路的分析步骤，分析测试结果。
成绩评定： 指导教师签字： 年 月 日 注：1、报告内的项目或内容设置，可根据实际情况加以调整和补充。
Ci
Si
1
1
≥1
Ci-1
Bi
Ai
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