现代分析技术总结.doc

周灵平部分： 一 物相定量分析和结晶度分析 定量分析的理论基础是物质的衍射强度与该物质参加衍射的体积成正比。 直接对比法特点：a、不需要向被测试样中掺入标准物质，而是以两相的强度比为基础b、与含量无关的衍射强度参数可通过理论计算得到c、它既适用于粉末试样，也适用于整体试样d、在钢铁材料研究中，常用于钢中残余奥氏体含量的测定 直接对比法基本公式：I1=BC1ν1/μ I2=BC2ν2/μ… ν1+ν2+ν3+…+νn=1 外标法：基本原理：用对比试样中待测的第j相的某条衍射线和纯j相（外标物质）的同一条衍射线的强度来获得第j相含量 外标法基本公式：I1=BC1(ω1/ρ1)/[(μm)1ω1+(μm)2ω2] ω1+ω2=1 纯第1相物质的强度I10= BC1(1/ρ1）/(μm)1 I1 / I10= … 内标法：在被测的粉末试样中加入一种含量恒定的标准物质制成复合试样。一般情况下可用刚玉粉做内标物质。通过测量复合试样中待测相的某一条衍射线强度与内标物质某一条衍射线强度之比，来测定待测相的含量。 内标法基本公式：ω’j=ωj (1-ωs) Ij= BCj(ω’j /ρj)/[ μmω’+ωs (μm)s] Is= BCs(ωs /ρs)/[ μmω’+ωs (μm)s] Ij / Is =… K值法特点：主要优点： K值基本公式：内标法中的Ij / Is =…令Ksj=Cjρs /Csρj（sj分别是K的上下标）=》Ij / Is =… 10、 11、为了避免显微吸收效应的影响，颗粒度需满足：R≤100/(μj-μ) μj-μ算绝对值μ为混合物的线吸收系数。定量分析时，粉末颗粒度不能太大（不超过2μm），但也不能过小，因为线形宽化使得积分强度不易测准造成的。 12、结晶度即结晶的程度，一般以晶态总量占矿物总量的百分率表示,Xc=gc/(gc+ga) gc =K1∑Ic ga =K2Ia gc + ga =1(求K: ∑Ic=… 当Ia=0(∑Ic=1/ K1 当∑Ic=0(Ia=1/ K2 二、晶胞参数的测定 1、晶胞参数即点阵常数，对他的测定立方晶系一般采用外推法，非立方晶系可采用内标法。 2、对于立方晶系的基本原理：d=a/√H2+K2+L2 2dsinθ=λ a=… 3、点阵常数的计算归结为两个任务：a、衍射峰干涉指数HKL的标定；b、衍射峰位角θ的精确测定。点阵常数测量精度取决于峰位角θ的误差，其误差来源于系统误差和偶然误差。 4、对布拉格方程微分Δd/d=-ctgθΔθ，对于立方晶系Δd/d=Δa/a=-ctgθΔθ 当θ—90°时，Δa/a—0，因此精确测定点阵常数时，利用高角度（大于60°）衍射线进行。 5、衍射仪法的主要误差：不能利用外推函数消除的误差（零点误差、角驱动匹配误差、计数测量滞后误差、折射校正、温度校正）和利用外推函数可以消除的误差（平板试样误差、试样表面离轴误差、试样透明度误差、轴向发散误差）。 6、解析外推法计算点阵常数的精确值ai=a0±Δa= a0±bf(θi) a0为精确值f(θi)外推函数 外推函数选取原则：误差主要来源试样吸收误差，外推函数用cos2θ；误差主要来源平板试样引起的散焦误差，用ctg2θ；离轴误差是主要来源，用cosθctgθ 7、点阵参数法的应用：固熔体溶质浓度的测定；表面薄膜厚度的测定；相图的测定；钢的淬火与回火分析；残余应力测定 8、马氏体点阵常数aM和cM与含碳量呈直线关系：aM=aα-0.0013ω cM= aα+0.0116ω aα为纯α-Fe的点阵常数，为0.28664nm，ω为马氏体中含碳量的百分数。 三、晶粒度和晶格畸变的测定 1、 衍射线的宽化原因：a、仪器宽度（X射线源尺寸、平板试样聚焦不完全、轴向发散度、样品透明度、接收狭缝的大小、衍射仪失调）b、物理宽度（晶粒度致宽、点阵畸变致宽、固溶体中溶质浓度分布不均匀致宽，这是个干扰因素，一般不予考虑） 2、X射线衍射测定晶粒度和晶格畸变原理：晶格畸变和晶块细化均使倒易空间选择反射区增大，从而导致衍射线加宽，即物理加宽；实测中它并不是单独存在的，伴随有仪器宽度。测定的核心问题是如何从实测衍射峰中分离出物理加宽效应，进而再将晶格畸变和晶块细化两种宽效应分开。 3、当样品晶粒小于0.1μm，或存在晶格畸变，衍射峰就会宽化：a、仅由晶粒细化（晶粒均匀）引起的宽化：谢乐公式：βL=Kλ/Lcosθ K为常数，与β定义有关，采用半高宽K为0.9，积分高度，K为1.0.实际上K还与晶体结构和所选晶面有关。b、晶格畸变引起的宽化：βD=4etgθ e=Δd/d为垂直于（hkl）晶面的平均畸