电子显微学复习提纲答案.docx

电子显微学第一章复习题什么是轴对称场？为什么电子只有在轴对称场中才被聚焦成像？轴对称场是指电位的分布对系统的主光轴具有旋转对称性的场。非旋转对称磁场在不同方向上对电子的汇聚能力不同，因此不能将所有电子汇聚到轴上一点，进而发生像散。磁透镜的像散是怎样形成的？如何加以矫正？像散是由于磁透镜磁场的非旋转对称磁场而引起的。极靴内孔不圆，上下极靴轴线错位，制作极靴的材料材质不均匀以及极靴孔周围局部污染等原因都会使电磁透镜的磁场产生椭圆度。透镜磁场的这种非旋转对称，使电子在不同方向上的聚焦能力出现差别，结果是物点通过透镜后不能再像平面上聚焦成一点。像散可通过消像散器补偿。什么是透镜畸变？为什么电子显微镜进行低倍率观察时会产生畸变？如何矫正 ?透镜畸变是由球差引起的，像的放大倍数将随离轴径向距离的加大而增加或减小。当透镜作为投影镜时，特别在低放大倍数时更为突出。因为此时在物面上被照射的面积有相当大的尺寸，球差的存在是透镜对边缘区域的聚焦能力比中心部分大。反映在像平面上，即像的放大倍数将随离轴径向距离的加大而增加或减小。可以通过电子线路校正：使用强励磁，使球差系数Cs显著下降；在不破坏真空的情况下，根据放大率选择不同内经的透镜极靴；使用两个投影镜，使其畸变相反，以消除。TEM的主要结构，按从上到下列出主要部件电子光学系统——照明系统，图像系统，图像观察和记录系统；真空系统；电源和控制系统从上到下：电子枪→样品室→物镜→(物镜光阑)→(选区光阑)→中间镜→投影镜→荧光屏→观察室或照相机。TEM和光学显微镜有何不同？光学显微镜用光束照明，简单直观，分辨本领低（0.2um），只能观察表面形貌，不能做微区成分分析；TEM分辨本领高（1A）可把形貌观察，结构分析和成分分析结合起来，可以观察表面和内部结构，但仪器贵，不直观，分析困难，操作复杂，样品制备复杂。几何像差和色差产生原因，消除办法。球差即球面相差，是由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不符合预定的规律而造成的。减小球差可以通过减小Cs值和缩小孔径角来实现，用多级矫正器进行校正。像散是由于电磁透镜磁场具有一定的椭圆度造成的，不同方向上电子的聚焦能力不同，因而在主光轴上不能汇聚到一点。用消像散器消除。畸变是由于球差引起的。通过电子线路的校正可以消除。色差是由于入射电子波长（或能量）的非单一性造成的。采取稳定加速电压的方法可以有效减小色差；适当调配透镜极性；卡斯汀速度过滤器TEM分析有那些制样方法？适合分析哪类样品?各有什么特点和用途？制样方法：化学减薄，电解双喷，解理，超薄切片，粉碎研磨，聚焦离子束，机械减薄，离子减薄；TEM样品类型：块状，用于普通微结构研究；平面，用于薄膜和表面附近微结构研究；横截面样品，均匀薄膜和界面的微结构研究；小块粉末，粉末，纤维，纳米量级的材料。二级复型法：研究金属材料的微观形态一级萃取复型：指制成的试样中包含着一部分金属或第二相实体，对他们可以直接做形态检验和晶体结构分析，其余部分则仍按浮雕方法间接观察金属薄膜试样：电子束透明的金属薄膜，直接进行形态观察和晶体结构分析粉末试样：分散粉末法，胶粉混合法思考题一电子管，由灯丝发出电子，一负偏压加在栅极收集电子，之后由阳极加速，回答由灯丝到栅极、由栅极到阳极电子的折向及受力方向？答．由电子光学折射定律：，电子从低电位过渡到高电位时电子轨迹折向法线，同时，所受力的方向沿该处电力线的切线方向的负方向，因此（1）由灯丝到栅极，电子束先发散后收集；由于栅极电位比灯丝电位更负，所以受到由栅极指向灯丝的电场力，（2）由栅极到阳极，电子束汇聚，即产生的径向电场分量和电场力使电子偏向光轴，电场力为由灯丝指向阳极。为什么高分辨电镜要使用比普通电镜更短的短磁透镜作物镜？高分辨电镜要比普通电镜放大倍数高。为了提高放大倍数，需要短焦距的强磁透镜。透镜的光焦度1/f与磁场强度成正比。较短的f可以提高NA，是极限分辨率更小。为什么选区光栏放在“像平面”上？电子束照射到待研究的视场内，防止光阑受到污染，将选区光阑位于像平面的附近，通过一次放大像的范围来限制试样成像或产生电子衍射的范围。一个20微米直径的选区光栏，在MO为100时，所选样品区域直径是多大?20/100=0.2um电镜中的像差是如何形成的？分别谈如何消除各种像差。略，复习题中有什么是景深和焦深？景深：固定像点，物面轴向移动仍能保持清晰的范围。焦深：固定物点，像面轴向移动仍能保持清晰的范围。电子显微镜像散产生的原因是什么？略，复习题中有第二章复习题电子束入射固体样品表明会激发哪些信号？　它们有哪些特点和用途？二次电子（SE）：当入射电子与试样作用后，使物质表面发生电离，被激发的电子离开试样表面而形成二次电子。二次电子能量较低，在电场作用下可呈曲线运动翻越障碍进λ检测器，因而能使样品表