手机耳机检验标准HP-QA-SIP-014.docVIP

1．目的 适应本公司耳机检验的需要。 2．适用范围 本公司所有手机耳机来料检验。：产品存在对使用者的人身及财产安全构成威胁的缺陷或造成不能使用的缺陷或严重影响主要性能指标、功能不能实现的缺陷重缺陷（Major Defect）：功能缺陷影响正常使用性能参数超出规格标准；漏元件、配件或主要标识，多出无关标识及其他可能影响产品性能的物品；包装存在可能危及产品形象的缺陷导致最终客户拒绝购买的结构及外观缺陷次要缺陷（Minor Defect）：影响外观的缺陷，不影响产品使用，最终客户有可能愿意让步接受的缺陷 注：有些外观检查中发现的问题会影响到产品的功能，则按照功能缺陷的标准来确定缺陷等级；如按键脱落会导致按键无功能，为主要缺陷。有些功能检查中发现的问题仅影响到产品观感，则按照外观缺陷的标准来确定缺陷等级；如按键漏光 检测项目分类 具体不良项目 不良现象描述 缺陷类别 CRI MAJ MIN 包 装 物料标签错误 规格、品名、料号填写错误 √　 包装不良 外箱破损、包装不符要求 √ 数量不对 少数、混料 √ 外观 颜色 颜色不对，发黄、老化 √ 插头 插头规格不对，插拔松动、引脚浮起 √ 耳机开关按键 无作用、手感不良 √ 耳机壳 耳机壳批锋，开裂、益胶、划伤 √ 夹子 应无断裂、开裂，并可夹紧衣服 √ 膜片 膜片变形、有异物、残胶、破裂 √ 磁钢 内有异物、破损、碰圈 √ 变形、音膜破