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实验三 复反射系数（复阻抗）测量 实验目的 1.了解测量线的基本结构和调谐方法，掌握微波晶体检波律的校准方法。 2.了解驻波测量与阻抗测量的意义与相互关系，熟练掌握用测量线测量反射系数即复阻抗的基本方法。 3.熟悉Smith阻抗园图的应用。 二．实验原理 实验步骤 测量线后接短路片。将信号调至最大，并用波长计测出工作频率f，由此计算导波长λg。计算导波长时，需矩形波导宽边的长度，实验室所用的BD20系列波导的a=2.286cm。λg=λ/√1-(λ/λc)^2, λc=2a。 在测量线后接短路片，用交叉读数法测出各最小点位置Dmin（需将系统灵敏度调至最佳状态，以提高最小点为止的测量精度），求导波长λg。并与上面计算得的λg相比较。 在测量线后接匹配负载，用直接法测出其驻波系数。 在测量线后接膜片+匹配负载，用直接法、二倍最小法、功率衰减法测量其驻波系数，并测出其最小点位置（均需用交叉度数法测量）。计算该负载的输入阻抗及输入导纳。功率衰减器的刻度通过查表得到衰减量（dB）。 取下负载，测量线开口，测一下此时的驻波系数ρ及Dmin，计算终端开口时的等效阻抗值。 在测量线后接短路片，测量晶体检波律。 实验数据和计算过程： 1测量线后接短路片： 螺旋测微计读数为8.46mm，经查表对应的频率为9.37GHZ。根据公式λg=λ/√1-(λ/λc)^2，λ=c/f，λc