3.2.过程能力分析.pptxVIP

GB-3.2aMeasure Phase:Process CapabilityPrepared By：TT Tang （BB Office)Prepared Date: 2011.04.19D-M-A-I-CDefine (定义)选择/确定合适的项目Measure (测量)识别输出及输入Analyze (分析)识别/确认根本原因Improve (改进)针对根本原因改善及优化Control (控制)保持改善/优化 Process Capability (Cp Cpk PpPpk )正态曲线：正态曲线有平均值(μ)和标准偏差(σ).μσ有规格界限的正态曲线：受控失控：可接受不可接受：受控而且被接受受控但是不能接受Cp 潜在过程能力：潜在的过程能力指标-Cp，公式是： Cp = USL – LSL 6σst能接受的过程，Cp的值最小是1Cp – 过程能力指数过程能力的度量过程能力指数CpkCpk：工序的平均值相对于规格界限的上下值之间的能力指数是指工序的平均值与就近的规格界限的最小距离允许有+/- 1.5 σ的过程偏移来表示整个时期的过程。例如：分布的中心点偏移这是因为有一些因子的影响。例如：机加工的过程中刀具磨损。发生偏移的过程LSLUSL 3σUSL3σ6σ 平均值的漂移1.5σshiftUSL4.5σ1.5σ6σ过程分布 –包含了 1.5 sigma 的偏移可能的并且受控的6 Sigma 可能的过程分布 1.5σshiftUSL6σ6σ12σ当没有偏移或漂移， Cpk= Cp当过程有漂移， Cpk变小CpkCp, Cpk, σcapability 及 σlevel的关系过程绩效指数– Pp Ppk 随着时间，过程的漂流将使得分布逐步趋向水平，过程的标准偏差就会增加，为了正确地反映出这个影响，我们定义出两个长期的能力指数： Pp 和Ppk 这两个指数的计算公式非常类似于短期的公式，但是这里，分母上用的是长期的标准偏差。σLTPp和Ppk是根据overall的标准偏差计算得来的， PPU和PPL的最小值就是Ppk.Pp和Ppk的值是表示长期的。计算标准偏差的方法：Overall σMedian MR methodAverage MR methodσBetweenσ Withinσ TotalPooled σ methodSbar methodRbar method短期的过程能力的评估：长期的过程能力的评估短期和长期的过程的演变变异性来源的区分全部波动 = 组内波动+组间波动长短期的过程能力的总结长期 (LT)短期 (ST)例子电源输出的过程能力图例子 – Stedv(within)是每个组的Rbar/d2的平均值Stedv(overall)是所有数据的标准偏差练习：打开MINITAB 中的练习： Camshaft. Mtw (凸轮轴）背景：1）一家汽车组装厂，四个班次，五个凸轮轴需要做品质控制，每天每班都20个样本2）由于磨损，导致在凸轮轴的长度上有问题，但是符合规格—这样造成组装生产线上有很高的废弃及返工存在。3）呈纵向的是工厂里所有的凸轮轴的长度，而供应商1和供应商2列是从供应商1和2得到的数据4） 凸轮轴的规格是600 mm ±2mm 目标： 比较供应商1和2的结果，以及相应的质量成本损失离散型数据的过程能力分析(二项式分布)二项能力分析和Poisson能力分析.MTW离散型数据的过程能力分析(泊松分布)二项能力分析和Poisson能力分析.MTW总结：一旦过程是统计受控，你就需要分析这个过程是否可行，也就是看是否符合规格界限，这样才能生产出“好”的零件。确定过程能力，可以通过过程的分布的宽度和规格界限的宽度之间的比较得到。能力指标： Cp 和Cpk 是规格的公差与标准过程分布的比，是评估过程能力的直接的方法因为这些指标是没有单位的，你可以对多个过程的能力作统计的比较我们可以由PPM来估计出COPQ。CHINAJAPANKOREAU.S.A.SWITZERLANDGERMANYITALYSPAINTHANK YOUProcess CapabilityProcess CapabilityProcess CapabilityProcess CapabilityProcess CapabilityProcess CapabilityProcess CapabilityProcess CapabilityProcess CapabilityProcess CapabilityProcess CapabilityProcess CapabilityProcess CapabilityProcess CapabilitySheet3 Sheet4 Sheet5 Sheet2 Sheet1 Attribute Data Ta