CommonMistakeofCpk-CN1.0分解.docVIP

草稿更新纪录 草稿 日期 描述 A 2010/09/09 新版本 作者: 陈竑介（陈鸿杰）Tan Hong Keat 邮箱: tan_hongkeat@.sg 目录 草稿更新纪录 i 目录 ii 图表目录 iii 插图目录 iv 公式目录 v 1 总概 a 2 术语 a 2.1 简称 a 2.2 定义 a 2.3 公式 b 3 Cpk Ppk d 3.1 无法区分Cp, Cpk, Pp Ppk d 3.2 Cpk = Cp(1-k)? d 3.3 关于Cpk一定为正值的误解 e 3.4 为何 Cpk 1.33 并且 Ppk 1.67? f 3.4.1 为什么均值中一个标准差偏移 = 0.33Ppk? g 3.4.2 为什么均值有95%的可能性会产生1个标准差的偏移？ g 3.5 Cpk Ppk 可能吗? g 3.6 不用直方图显示分布 h 3.7 测量分辨率不足 i 3.8 分布中的孤岛效应 i 3.9 双模型或多模型分布 j 3.10 Cpk = Ppk可能吗? j 3.11 不用控制图展示趋势效果 k 3.12 混淆了Sigma 能力, Sigma 水平, Z值, Cpk and Ppk k 图表目录 图表 1: 简称 a 图表 2: 术语定义 b 图表 3: 公式清单 c 插图目录 插图 1: 均值偏离中心对Cpk的影响 h 插图 2: 测量分辨率不足对Cpk的影响 i 插图 3: 孤岛性数据对Cpk的影响 i 插图 4: 双模型分布对Cpk的影响 j 公式目录 公式 1: Cp, 潜在流程能力 d 公式 2: Cpk, 流程能力 d 公式 3: Pp, 潜在流程性能 d 公式 4: Ppk, 流程性能 d 公式 5: Cpk = Cp(1-k) d 公式 6: Cpk = Cp(1-k)的差异 e 公式 7: 计算 Ppk的标准差 f 公式 8: 计算 Cpk的标准差 f 公式 9: 一个标准差偏移对Ppk的影响 g 公式 10: 相等的子组均值和子组样品量的合并标准差vs总标准差 h 总概 这文件列下和描述作者经验中最常见的失误。其目的是让读者/ 使用者从其它人的经验中学习。它未必能包含经验中所有的失误，但是应该足够于大部分的使用者。这文件的目标读者有经验的工具使用者，而非初学者。读者需要具备几年的使用经验来理解文件中的案例。 读者需要理解这并非工具使用标准，它只是经验分享。作者将不会错误地使用这份文件付任何责任。 术语 简称 简称 描述 Cpk 过程能力指标 Ppk 过程表现指标 Cp 潜在过程能力指标 Pp 潜在过程表现指标 MSA 测量系统分析 SPC 过程统计控制 Stdev 标准偏差 Avg= Mean 平均值 LSL 下规格限 USL 上规格限 LCL 下控制限 UCL 上控制限 LPL 下过程（波动）界限 UPL 上过程（波动）界限 简称 定义 术语 2.2 定义 量具 以一定形式复现量值的计量器具通止规. 测量系统是用来对被测特性定量测量或定性评价的,包含仪器或量具、标准、操作、方法、夹具、软件、人员、环 境和假设的集合；用来获得测量结果的整个过程。 公式 术语 公式 平均值 标准偏差 方差 极差 极差= 最大值 – 最小值 Pooled标准偏差 Rbar标准偏差 Sbar标准偏差 平均移动极差 总标准偏差 公式清单 Cpk Ppk 无法区分Cp, Cpk, Pp Ppk 因为它们的公式和定义（名字），很多工作人员混淆了Cp, Cpk, Pp Ppk。 它们的公式如下: Cp, 潜在流程能力 Cpk, 流程能力 Pp, 潜在流程性能 Ppk, 流程性能 Where: 请察看公式定义的这两个标准偏差 Cpk = Cp(1-k)? 部分工作人员搞不清楚在应用中的两套CPK计算公式: 公式 1: 公式 2: Cpk = Cp(1-k) 在以下情况中，以上两套公式实际上是一样的： 具有双边规格（有上下规格限）; 并且 公式包括m, 即上规格限和下规格限的中心值。 工作人员在两套公式中混淆了绝对值(|m-μ|)。 有些工作人员以为公式1也需要绝对值。 看以下从公式2推导出公式1，在双边规格的情况下。 Cpk = Cp(1-k)的差异 关于Cpk一定为正值的误解 因为误会公式中有绝对值，一些工作人员错误的认为Cpk一定为正值， 如果均值在规格范围（LSL-US