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* * (2) 劈尖上表面平行上移,条纹如何变化? ? 不变条纹宽度不变 条纹向棱边方向移动 k=0 k=1 ?/2 0 1 2 1 2 3 * * (3) 劈尖底面有一凹槽, 条纹形状如何? 凹 ek ek * * l 应用一 薄膜厚度的测量: 薄膜厚度: 条纹数 L d 在半导体元件生产中,测定硅片上的二氧化硅薄膜厚度的常用方法是:将薄膜的一部分磨成劈形膜,通过观察垂直入射光在其上面产生的干涉条纹,计算出厚度. * * 说明 ?k反映了偏离直线条纹的程度. 应用二 光学表面检查 d ?d * * 若因畸变使某处移动了一个条纹的距离,?k=1,则 k-1 k k+1 表面凸起 k-1 k k+1 表面凹陷 * * 应用 光学表面检查 光学平板玻璃 待测平面 凹(凸)槽深度: * * 例6. 有一玻璃劈尖,夹角? = 8 ?10-6 rad,放在空气中。波长 ? = 0.589 ?m 的单色光垂直入射时,测得相邻干涉条纹的宽度为 l = 2.4 mm,求玻璃的折射率。 解: n l 条纹宽度(两相邻明暗纹间距) * * 二、牛顿环 特点: 干涉条纹是以接触点为圆心的明暗相间的圆环,中心为暗点;条纹间距不相等,且内疏外密。 是一种薄膜等厚干涉 装置:平凸透镜与平面玻璃板 * * 薄膜的上表面为球面 薄膜的下表面为平面 R为球面的曲率半径 r为干涉圆环的半径 薄膜介质的折射率为n 讨论反射光的干涉现象 r 明、暗环半径推导 透射光? * * 暗纹 明纹 r 暗斑 中心 明暗纹条件: 以接触点为中心的明暗相间的同心圆环 (想想透射光中观察是什么结果?) * * r 略去 明、暗环半径推导 * * 牛顿环半径公式: 明环 暗环 r 条纹内疏外密 白光照射出现彩环 k * * 白光入射的牛顿环照片 * * 1、中心为暗斑(k = 0 ),以后是一级明环,一级暗环,二级明环,二级暗环 3、实验中常发现牛顿环中心并非暗斑,而是灰斑,这是由于透镜与玻璃之间存在灰尘或污物 4、如从透射光中观察牛顿环,则由于不存在半波损失,中央为明斑(劈尖也存在这问题) 讨论: 2、随 ,条纹间距 ,所以牛顿环从里向外逐渐变密 * * 例题、用钠灯(? = 5893A)观察牛顿环,看到第k条暗环的半径为r = 4mm,第k+5条暗环半径r = 6mm,求所用平凸透镜的曲率半径R。 解: 联立求解: 条纹怎样,如何计算条纹半径,级次? 牛顿环的应用——曲率半径测量 * * 测量介质折射率 检测光学镜头表面曲率是否合格 将玻璃验规盖于待测镜头上,两者间形成空气薄层,因而在验规的凹表面上出现牛顿环,当某处光圈偏离圆形时,则该处有不规则起伏. 牛顿环的应用 验规 待测镜头 * * λ /2 劈尖等厚(高)线 * * 牛顿环等厚(高)线 λ /2 * * ? * * 迈克耳逊和莫雷曾利用它进行过著名的否定旧以太说的实验。在近代科学技术中有着重要应用。 Albert A. Michelson 1852-1931 The Nobel Prize in Physics 1907 Edward Morley 1838-1923 迈克耳逊干涉仪是利用光的干涉精确测量长度和长度变化的仪器。 12-3-3 迈克耳孙干涉仪 * * G1 G2 补偿玻璃板 半透明镀银层 迈克尔逊干涉仪工作原理 M1移动距离 干涉条纹移动的数目 插入介质片光程差改变量: 干涉条纹移动数目 * * 迈克耳逊干涉仪 等倾干涉 等厚干涉 * * * * 例7. 当把折射率n = 1.40的薄膜放入迈克耳孙干涉仪的一臂时,如果产生了7.0条条纹的移动,求薄膜的厚度。(已知钠光的波长为? = 5893A) 解: d * * * * * * * 光程(optical path)定义:光在介质中的光程为介质的折射律与光在介质中所走的几何路程之积, 数值上等于以相同的时间在真空中走过的距离.光程的物理意义:光在媒质中经过的路程折算到同一时间内在真空中经过的相应路程。 * 入射光到达薄膜表面被分解为反射光和折射光。折射光经下表面反射和上表面的折射,回到上表面上方的空间,与上表面的反射光交叠而发生干涉。 * * n1n2n 3 无附加光程差 n1n2n 3 无附加光程差 n1n2 n 3 有半波损失,上表面 n1n2 n 3 有半波损失,下表面 薄膜干涉中的“半波损失”问题: n2 n 3 n1 从光疏到光密。 反射 半波损失的两个条件: * * 特点:等倾干涉条纹是一组内疏外密的同心圆环,越向内,级次越高。入射角减小,圆半径减小。???? 12-3-1 等倾干涉 (厚度均匀
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