第二章晶体结构缺陷(一)探究.ppt

第二章 晶体结构缺陷 2.1 晶体结构缺陷的类型 2.2 点缺陷 2.3 线缺陷 2.4 面缺陷 2.5 固溶体 2.6 非化学计量化合物 缺陷的含义：通常把晶体点阵结构中周期性势场的畸变称为晶体的结构缺陷。 理想晶体：质点严格按照空间点阵排列。 实际晶体：存在着各种各样的结构的不完整性。 缺陷对材料性能的影响 2.1晶体结构缺陷的类型 分类方式： 　几何形态：点缺陷、线缺陷、面缺陷等 　形成原因：热缺陷、杂质缺陷、非化学计量缺陷等 一、按缺陷的几何形态分类 1. 点缺陷 2. 线缺陷 3. 面缺陷 4. 体缺陷 1.点缺陷（零维缺陷） 缺陷尺寸处于原子大小的数量级上，即三维方向上缺陷的尺寸都很小。 包括：空位（vacancy）、间隙质点（interstitial particle）、杂质质点（foreign particle），如图2-1所示。 ?点缺陷与材料的电学性质、光学性质、材料的高温动力学过程等有关。 图2-1 晶体中的点缺陷 2.线缺陷（一维缺陷） 　　指在一维方向上偏离理想晶体中的周期性、规则性排列所产生的缺陷，即缺陷尺寸在一维方向较长，另外二维方向上很短。如各种位错（dislocation），如图2-2所示。 线缺陷的产生及运动与材料的韧性、脆性密切相关。 图2-2 　 a 刃位错　 b 螺位错 3.面缺陷 面缺陷又称为二维缺陷，是指在二维方向上偏离理想晶体中的周期性、规则性排列而产生的缺陷，即缺陷尺寸在二维方向上延伸，在第三维方向上很小。如晶界、表面、堆积层错、镶嵌结构等。 面缺陷的取向及分布与材料的断裂韧性有关。 图2-3　面缺陷－晶界 图2-4 面缺陷－堆积层错面心立方晶体中的抽出型层错 a 和插入型层错 b 图２－５　面缺陷－共格晶面面心立方晶体中 111 面反映孪晶 二、按缺陷产生的原因分类 1. 热缺陷 2. 杂质缺陷 3. 非化学计量缺陷 4. 其它原因，如电荷缺陷，辐照缺陷等 1.热缺陷 定义:热缺陷亦称为本征缺陷，是指由热起伏的原因所产生的空位或间隙质点（原子或离子）。 类型:弗仑克尔缺陷（Frenkel defect）和肖特基缺陷（Schottky defect） 热缺陷浓度与温度的关系:温度升高时，热缺陷浓度增加 图2-6 热缺陷产生示意图 2.杂质缺陷 定义:亦称为组成缺陷，是由外加杂质的引入所产生的缺陷。 特征:如果杂质的含量在固溶体的溶解度范围内，则杂质缺陷的浓度与温度无关。 杂质缺陷对材料性能的影响 3.非化学计量缺陷 定义:指组成上偏离化学中的定比定律所形成的缺陷。它是由基质晶体与介质中的某些组分发生交换而产生。如Fe1－xO、Zn1+xO等晶体中的缺陷。 特点:其化学组成随周围气氛的性质及其分压大小而变化。是一种半导体材料。 * * 光照 n p n p + _ E n区空穴 P区电子 光生伏特效应 a 空位 b 杂质质点 c 间隙质点 a b （a）弗仑克尔缺陷的形成（空位与间隙质点成对出现） （b）单质中的肖特基缺陷的形成 4. 其它原因，如电荷缺陷，辐照缺陷等