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20160506-粉体工程
与 的差别表示颗粒形状对于球形的偏离 体积形状因子 形状系数 k 颗粒形状 2 表面形状因子与体积形状因子的比值 比表面积形状系数 3 形状系数 k 颗粒形状 一些规则几何体的形状因子 颗粒大小和形状表征 粉体特性的表征 粉体的平均粒径 01 粒度分布 02 粒度测定 03 计算公式: 粉体的平均粒径 粉体的平均粒径 计算公式: 粒度分布 粒度分布依据的统计基准: 例:以显微镜观察测量粉体的Feret径(测量总数为1000个) 频度% 粒度 频度% 粒度 正态分布: (–∞?d?+∞) ——中位径,统计学中的数学期望值 ——标准偏差 筛分析法( 40μm) 粒度测定 国际标准筛制:Tyler 泰勒 标准 单位:目 目数为筛网上1英(25.4mm)寸长度内的网孔数 a,d单位mm 25.4 a d 筛分析法( 40μm) 粒度测定 筛分析法( 40μm) 粒度测定 以200目的筛孔尺寸0.074mm为基准, 乘或除 模 (或) ,则得到 标准规则: 得到比200目粗的筛孔尺寸 主模系列: 得到比200目细的筛孔尺寸 筛分析法( 40μm) 粒度测定 副模系列: 得到比200目粗的筛孔尺寸 得到比200目细的筛孔尺寸 32 / 42 / 48 / 60 / 65 / 80 / 100 / 115 / 150 / 170 / 200 / 270 / 325 / 400 其中最细的是400目,孔径是38μm。 标准筛系列: 优点 统计量大, 代表性强 便宜 重量分布 下限38微米 人为因素影响大 重复性差 非规则形状粒子误差 速度慢 筛分析法( 40μm) 粒度测定 缺点 采用定向径方法测量 显微镜 粒度测定 光学显微镜:0.25——250μm 电子显微镜:0.001——5μm 显微镜测定粒度要求统计颗粒的总数: 粒度范围宽的粉末———10000以上 粒度范围窄的粉末———1000左右 显微镜 粒度测定 优点 缺点 可直接观察粒子形状 可直接观察粒子团聚 光学显微镜便宜 代表性差 重复性差 测量投影面积直径 速度慢 显微镜 粒度测定 测量原理 当光入射到颗粒时,会产生衍射, 小颗粒衍射角大,而大颗粒衍射角小, 某一衍射角的光强度与相应粒度的颗粒多少有关。 光衍射法 粒度测定 测量原理示意图 光 颗粒 激光衍射 0.05—500μm X光小角衍射 0.002—0.1μm 测量方法 光衍射法 粒度测定 激光衍射 光衍射法 粒度测定 激光法粒度仪 用于几个微米以下的测量 米氏 Mie 衍射理论 夫琅霍夫 Fraunhofer 衍射理论 颗粒直径远大于入射波长,即用于几个微米至几百微米的测量 目前的 激光衍射法原理图 激光器 激光束 透镜 样品池 透镜 衍射光束 未衍射光束 光传感器列阵 中心传感器 粉末 激光衍射 光衍射法 粒度测定 测量原理示意图 当一个小颗粒通过小孔时,所产生的电感应,即电压脉冲与颗粒的体积成正比。 测量原理 电传感法 粒度测定 无颗粒时单元的电阻: 有颗粒时单元的电阻: 仪器对脉冲计数并归档 即计算出有关粒度参量 在具有一定粘度的粉末悬浊液内, 大小不等的颗粒自由沉降时,其速度是不同的,颗粒越大沉降速度越快。 如果大小不同的颗粒从同一起点高度同时沉降,经过一定距离 时间 后,就能将粉末按粒度差别分开。 沉降法 粒度测定 测量原理 t 0 t t1 t t2 t t3 光吸收率 时间 t1 t2 t3 0 测量原理示意图 测量方法 沉降法 粒度测定 自然重力状态下的d~t函数: 重力沉降:10—300μm 离心沉降:0.01—10μm 离心力状态下d~t函数: 优点 测量重量分布 代表性强 经典理论, 不 同 厂 家仪器结果对比性好 价格比激光衍射法便宜 缺点 对于小粒子测试速度慢, 重复性差 非球型粒子误差大 不适应于混合物料 动态范围比激光衍射法窄 沉降法 粒度测定 感谢聆听 2016.05.06 粉末的表征与测量 潘婷,毕春鑫,张艳,杨丽珪 龚庆方,王影,张婷月,孙银秋 颗粒 粉体 从个体颗粒出发 颗粒 从集合粉体出发 粉体 颗粒大小和形状表征 粉体特性的表征 材料的机械、物理和化学性质描述了组成材料的物质组态的基本特性, 当物质被“分割”成为粉体之后,上述三类性质则不能全面描述材料的性质 必须对粉体材料的组成单元——颗粒,进行详细描述。颗粒的大小和形状是粉体材料最重要的物性特性表征量。 直径D、高度H ? 颗粒的大小 直径D 人为规定了一些所谓尺寸的表征方法 三轴径 / 定向径 / 当量径 三轴径 表征方法 h b l 设图中颗粒处于一水小平面上,其正视和俯视投影图如图所示。 在两个投影图中,定义一
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