光纤测试仪器OTDR简介和常规曲线分析讲解.docVIP

测试仪器OTDR简介和常规曲线分析 一、OTDR 英文：Optical Time Domain Reflectomenten 中文：1、光时域反射测试仪 照英文译 2、背向散射测试仪（按其原理命名） 二、全球主要厂家 美国PK PhotonKinetics 、日本安立（ANRITSU）、美国激光精密 GN Nettest 、爱立信 Ericsson 、EXFO等 三、衡量OTDR的性能指标 a、衡量OTDR的性能指标--动态范围 b、动态范围：在满足给定误码的条件下，光端机输入连接器，能接收最大的光功率与最小光功率电平值（接收灵敏度）之差。 c、动态范围越大，所能测试距离越长 四、OTDR的功能 a、测试光纤的长度； b、测试光纤的衰减系数（波长850nm、1310nm、1550nm、1625nm）； c、测试光纤的接头损耗； d、测试光纤的衰减均匀性； e、测试光纤可能有的异常情况（如有台阶，曲线异常等）； f、测试光纤的回波损耗 ORL ； g、测试光纤的背向散射 BKSCTR COEFF ； 五、OTDR的基本原理-瑞利散射、菲涅尔反射 a、瑞利散射：光波在光纤中传输，沿途受到直径比光波长还小的散射粒子的散射；瑞利散射具有与短波长的1/λ4成反比的性质，即：ar A/λ4，式中比例系数A与玻璃结构、玻璃组成有关 b、菲涅尔反射：光波在两种折射率不同的介质界面会形成反射，其反射能量约占总能量4%； 六、基本原理图 注：LD-半导体激光器，LED-面发光二极管 典型的后向散射信号曲线 输入端的Fresnel反射区（即盲区） 恒定斜率区、 由局部缺陷、接续或耦合引起的不连续性、 光纤缺陷、二次反射余波等引起的反射、 输出端的Fresnel反射、 曲线说明： 盲区：决定OTDR所能测到最短距离和最接近距离，是由于活接头的反射引起OTDR接收机饱和所至，盲区通常发生在OTDR面板前的活接头反射，但也可以在光纤的其它地方发生；一般OTDR盲区为100m。 盲区分为衰减盲区和事件盲区： 衰减盲区：从反射点开始至接收机恢复到后向散射电平约0.5dB范围内的这段距离,这段距离就是OTDR能再次测试衰减和损耗的点. 式中：D的长度就为衰减盲区的长度。 事件盲区:从OTDR接收到反射点到开始到OTDR恢复到最高反射点1.5DB以下这段距离,在这以后才能发现是否还有第二个反射点,但还不能测试衰减. 式中：D1的长度就为事件盲区的长度。 2 影响盲区的因素： a、入射光的脉冲宽度、 b、反射光的脉冲宽度、 c、入射光的脉冲后端形状、 d、所用脉冲越小，盲区越大。 3）消除盲区的方法：加尾纤（过渡纤），最好2KM以上 2、b、c、e、f各点在后面曲线分析中说明。 光纤损耗计算公式： a：P（T） 1/2S aR P 0 VgTe-2a Vg t/2 式中：S-散射光的散射系数; aR-散射损耗系数; P 0 -注入光功率; Vg-群速 T-脉冲宽度 介绍OTDR的主要参数设置 OTDR的光纤的折射率（IOR） 设置OTDR上光纤的双窗口的折射率因根据各厂家提供的数据，每种光纤其折射率是不同的，OTDR所测光纤长度跟设置的折射率有关；对同一光纤，所设置的折射率越大所测光纤长度越短，反之… OTDR测试量程（DISTANCE） OTDR所设量程必须是所要测试光纤长度2倍以上，对于长光纤量程不到2倍以上也可以测试，但极易出现测试误差。 OTDR的测试脉宽（PUISH WIDTH） 原则：长距离用长脉宽，短距离用小脉宽。一定光纤长度必须选用相对应，长脉宽平均化时间短，但OTDR分辨率低，光纤存在的细小的异常情况（如小台阶等）不易发现，小脉宽平均化时间长，但OTDR分辨高，易发现细小的异常情况；两者必须有机结合，合理配置。 OTDR的测试模式（MODE） OTDR的测试光纤衰减模式分为2PT（两点法）、LSA（最小两乘法），测试接头模式5 SPLICE（五点法）分为自动、手动，选用合理的模式可以减少测试误差； 2PT：当所测光纤曲线上有台阶、曲线不良等情况时，必须两点法测试光纤衰减； LSA：当所测光纤曲线斜率均匀时，用LSA测试光纤衰减； 5 SPLICE：测试接头损耗原则上采用自动模式，可以减少人为误差。 （接头损耗是指光纤连接器、耦合器、熔接点等） 十一、OTDR测试介绍： 受试光纤的注入条件： 对于衰减测量，为了减少在光纤输入端的反射峰，应采用折射率匹配材料（匹配液、匹配膏）等；如用毛细管进行耦合时应用匹配膏，目的是将接续损耗减至最小，匹配液、匹配膏的折射率要等同于包层的折射率。 2、长度测量， 一般采用两点法，，将受测光纤与尾纤一端相接，尾纤一端连到OTDR上，调整出显示尾纤和受测光纤的后向散射峰。其曲线见图 将光标A