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实验一 清零程序 一、实验目的 （1）掌握汇编语言设计和调试方法； （2）熟悉MCS-51 单片机实验系统。 二、实验内容 把c000H~c0FFH的内容清零。 三、程序框图 清零 四、实验步骤 用连续或单步方式运行程序，检查C000~C0FF中执行程序前后的内容变化。 五、思考 （1）对于清零程序，假使把C000H~C0FFH中的内容改成FF，如何修改本程序？ （2）如何用断点方式调试程序？ 实验二 拆字程序 一、实验目的 （1）掌握汇编语言设计和调试方法； （2）熟悉MCS-51 单片机实验系统。 二、实验内容 把C000H的内容拆开，高位送C001H低位，低位送C002H低位，C001H、C002H 高位清零，一般本程序用于把数据送显示缓冲区时用。 三、程序框图 拆字 四、实验步骤 程序一：用连续或单步方式运行程序，检查C000~C002H中内容变化情况。 程序二：单步或用断点方式运行程序，检查C002H内容变化情况。 五、思考 编写程序：把C000H、C001H的低位分别送入C002H高低位，一般本程序用于把显示缓冲区的数据取出拼装成一个字节。 实验三 数据区传送程序（综合性） 一、实验目的 （1）掌握RAM中的数据操作； （2）熟悉8031(8051)指令系统，掌握程序设计方法。 二、实验内容 把R2、R3源RAM区首址内的R6、R7字节数据传送到R4、R5目的RAM区。 三、程序框图 数据区传送 四、实验步骤 在R2、R3中输入源首址（例如c000H），R4、R5中输入目的地址（例如D000H），R6、R7中输入字节数（例如0FFFH），运行程序，检查C000~CFFFH中内容是否和D000~DFFFH中内容完全一致。 实验四 P1口亮灯实验 一、实验目的 （1）学习P1口的使用方法； （2）学习延时子程序的编写。 二、实验预备知识 本实验中延时子程序采用指令循环来实现，机器周期（12/6MHz）*指令所需机器周期数*循环次数，在系统时间允许的情况下可以采用此方法。 对于延时程序 DELAY： MOV R6，#00H 　　DELAY1：MOV R7，#80H DJNZ R7，﹩ DJNZ R6，DELAY1 MOV、DJNZ指令均需用两个机器周期，而一个机器周期时间长度为12/6.0MHZ，所以该段指令执行时间为：（（80+1)×256+1)×2×(12÷6000000)=132.1ms。 三、实验内容 P1口作为输出口，接八只发光二极管，编写程序，使发光二极管循环点亮。 四、程序框图 五、实验电路 六、实验步骤 A2区的P10—P17用8芯排线连接到D1区的LED1—LED8，运行程序后，观察发光二极管闪亮移位情况。 七、思考 （1）改变延时常数，使发光二极管闪亮时间改变； （2）修改程序，使发光二极管闪亮移位方向改变。 实验五 定时器实验 一、实验目的 通过学习单片机定时器的定时操作，掌握单片机定时器初始化编程方法和基本应用。 二、实验内容 利用单片机内部定时器产出精确的一秒定时，用其中的单片机的P1 口作为控制端口，使D1 区的LED 每隔一秒钟轮流亮。（晶振取6MHz）. 三、实验原理图 四、实验步骤 用排线连接A2区P1口和D1区LED1—LED8，编写定时控制程序，观察LED发光情况 五、思考题 1、如何改变定时时间。 2、如何改变发光二极管闪亮移位方向。 实验六 简单IO扩展实验 一、实验目的 （1）掌握P3口、P1口简单使用； （2）学习延时程序的编写和使用。 二、实验内容 1.P3口做输入口，外接一脉冲，每输入一个脉冲，P1口按十六进制加一。 2.P1口做输出口，编写程序，使P1口接的8 个发光二极管D1—D8按16进制加一方式点亮发光二极管。 三、实验说明 P3口是准双向口，它作为输出口时与一般的双向口使用方法相同，由准双向口结构可知：当P3口作为输入口时，必须先对它置高电平，使内部MOS管截止，因内部上拉电阻是20KΩ—40KΩ，故不会对外部输入产生影响。若不先对它置高，且原来是低电平，则MOS管导通，读入的数据是不正确的。 四、实验程序框图 五、实验线路图 　　　 六、实验步骤 ①A2区INT1用插针连至D1区SW1孔，A1区P10—P17用排线连至D1区LED1—LED8。 ②连