X射线荧光光谱分析法 第一节 基本原理和方法特点 第二节 X射线荧光光谱仪结构及工作原理 第三节 X射线荧光光谱分析的应用 第一节 基本原理和方法特点 一 X射线荧光光谱分析法的基本原理 二 X射线荧光光谱分析法的特点 (一)优点 (1)分析速度快。 (2)X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态及物理状态无关。 (3)非破坏分析。 (4)X射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对化学性质上属于同一族的元素也能进行分析。 (5)分析精密度高。 (6)X射线光谱比发射光谱简单,故易于解析。 (7)制样简单。 (8)X射线荧光分析系表面分析,测定部位是0.1mm深以上的表面层。 (二)缺点 (1)难于作绝对分析,故定量分析需要标样。 (2)原子序数低的元素,其检出限及测定误差都比原子序数高的元素差。 第三节 X射线荧光光谱分析的应用 (一)块状样品 一 样品制备 (二)粉末样品
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