icp-ms7700.docVIP

Agilent 7700x ICP-MS? 通用型、针对大多数常规和高盐样品分析应用 7700x的标准配置包括了高盐样品进样系统（HMI）和He气碰撞池（ORS3），使高盐复杂基体样品的分析成为日常常规工作。7700x具有高温ICP离子源（以最低氧化物干扰为指标）、高盐样品分析系统以及9个数量级的浓度动态线性范围，是理想中的仪器分析性能完美组合—样品适应性强、分析灵敏度高和分析范围宽。同时保留了能进行更前沿的研究型应用的灵活性。 7700x提供了各种可选部件和附属配件（比如与各种色谱联用的接口，有机溶剂的直接进样分析套件，耐高腐蚀性酸的分析套件等），为用户的各种前沿分析需求提供个性化的选择。 特点 耐用性提升到新水准：7500x标准配置配置包括HMI配以全新的高速频率匹配的RF发生器，可以轻松地分析最棘手的样品类型。 干扰消除的能力更好：新型第三代八极杆碰撞反应池-ORS3-比以往更有效地消除质谱干扰 获得可靠的结果：氦气碰撞模式已经被证实是对付复杂多变样品基体干扰的最可靠方法，它能排除所有的多原子离子干扰，尤其是在因样品组成复杂而无法预知的多原子离子干扰。 分析更简便：ORS3 和 He模式对大多数常见应用方法来讲，无需使用其它反应性气体。 在7500优异的检出限基础上，7700 进一步得到改善。 新用户友好型特征，减少了培训成本，改善了分析效率：One-click的等离子体设置和专家自动调谐功能，使等离子体最佳化和调谐更简单、更重现。 样品锥很容易拆卸安装，一键式操作就可进行拆卸和复位，便于日常维护。 强大的新MassHunter软件平台增强数据分析和报告功能。 新型紧凑设计—世界上最小的商品化ICP-MS，为您节约了宝贵的工作台面和实验室空间 相关信息 资料库 产品样本 ICP-MS 读本和挂图 形态分析手册 ICP-MS 期刊辑录 杂志文章 技术支持 常见问题 部件信息 教育 课堂培训课程 网络研讨会 路展和会议 ICP-MS是一种多元素分析技术，具有极好的灵敏度和高效的样品分析能力。ICP-MS仪器用等离子体（ICP）作为离子源，质谱（MS）分析器检测产生的离子。它可以同时测量周期表中大多数元素，测定分析物浓度可低至亚纳克/升（ng/l）或万亿分之几（ppt）的水平。 等离子体离子源通常，液体样品通过蠕动泵引入到一个雾化器产生气溶胶。双通路雾室确保将气溶胶传输到等离子体。在一套形成等离子体的同心石英管中通入氩气（Ar）。炬管安置在射频 RF 线圈的中心位置，RF能量在线圈上通过。强射频场使氩原子之间发生碰撞，产生一个高能等离子体。样品气溶胶瞬间在等离子体中被解离（等离子体温度大约为6000 - 10000 K），形成被分析原子，同时被电离。将等离子体中产生的离子提取到高真空（一般为10-4 Pa）的质谱仪部分。真空由差式抽真空系统维持：被分析离子通过一对接口（称作采样锥和截取锥）被提取。 四极杆质谱仪被分析离子由一组离子透镜聚焦进入四极杆质量分析器，按其质荷比进行分离。之所以称其为四极杆，是因为质量分析器实际上是由四根平行的不锈钢杆组成，其上施加RF和DC电压。RF和DC电压的结合允许分析器只能传输具有特定质荷比的离子。 检测器最后，采用电子倍增器测量离子，由一个计数器收集每个质量的计数。 质谱质谱图非常简单。每个元素的同位素出现在其不同的质量上（比如，27Al会出现在27 amu处），其峰强度与该元素在样品溶液中同位素的初始浓度直接成正比。1-3分钟内可以同时分析从低质量的锂到高质量数的铀范围内的大量元素。用ICP-MS，一次分析就可以测量浓度水平从ppt级到ppm级的很宽范围的元素。 应用ICP-MS广泛用于许多工业领域，包括半导体工业、环境领域、地质领域、化学工业、核工业、临床以及各类研究实验室，是痕量元素测定的关键分析工具。